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文檔簡介
1、國際離子化冷卻μ介子實驗(Muon Ionization Cooling Experiment,簡稱MICE)是驗證中微子工廠和μ介子對撞機可行性的關鍵技術(shù)預研性工作之一。作為MICE實驗裝置中的重要組件之一的超導耦合螺線管磁體將提供約2.6T的中心磁場,以控制位于其內(nèi)部的射頻腔內(nèi)的μ介子束流。超導磁體的失超會導致磁體線圈內(nèi)部的過熱和過電壓,從而可能對磁體造成永久性損害,失超過程的研究及失超保護系統(tǒng)的設計是超導磁體設計的關鍵內(nèi)容之一。以
2、商用銅基鈮鈦超導線繞制、環(huán)氧樹脂浸漬的耦合磁體擬采用線圈分段并結(jié)合骨架誘發(fā)失超效應(quench-back)的被動失超保護方式。本文以MICE超導耦合螺線管磁體為研究對象,建立了失超過程的數(shù)值模擬模型,深入地研究了失超過程中主要參數(shù)的變化規(guī)律,設計了合理可行的失超保護系統(tǒng)。本文的研究結(jié)果對耦合磁體及類似螺線管磁體的失超保護系統(tǒng)設計具有重要的理論指導意義和實際應用價值。主要研究內(nèi)容包括:
為了設計合理的耦合磁體失超保護電路,對耦
3、合磁體的失超過程進行了半經(jīng)驗數(shù)值模擬研究。在經(jīng)典的基于失超傳播速度的失超模擬方法中考慮了骨架的誘發(fā)失超效應,為耦合磁體失超過程的模擬建立了一個半經(jīng)驗數(shù)值模型。采用已成功運行的一個實驗超導磁體的失超過程實驗結(jié)果,經(jīng)與模型計算結(jié)果比較,驗證了模型的正確性。用該模型研究了磁體分段數(shù)目、保護電阻值和綁扎帶材料對于耦合磁體失超過程的影響,為耦合磁體設計了合理的失超保護電路。
為了深入理解耦合磁體的失超過程和骨架內(nèi)的渦流及其引起的誘發(fā)失超
4、效應,對耦合磁體的失超過程進行了進一步的有限元模擬研究?;贏NSYS耦合場分析功能,考慮了骨架的誘發(fā)失超效應,建立了失超過程瞬態(tài)耦合熱電磁有限元模型。應用該模型計算了耦合磁體失超過程,比較了有限元模型與半經(jīng)驗模型的計算結(jié)果,驗證了該有限元模型的正確性。利用該模型進一步分析了失超過程中骨架的誘發(fā)失超效應,并指出了有限元模型與半經(jīng)驗模型的優(yōu)缺點。
已公開的失超模擬方法對于磁體內(nèi)部的過熱計算比較準確,對于過電壓計算非常保守,為此本
5、文提出了分段螺線管磁體失超過程過電壓的一個較準確計算方法。準確的過電壓計算需要分析磁體內(nèi)部的電壓分布。將磁體看做是以匝為單元組成的電路,每匝同時具備電阻與電感屬性。失超過程中各匝的電感不變,電阻隨匝溫度而變。根據(jù)每匝的瞬態(tài)溫度和電流,可計算出磁體內(nèi)部沿導線方向的電阻電壓、電感電壓以及合電壓分布。提出了分段螺線管線圈失超過程中最大內(nèi)電壓、層間電壓及匝間電壓的較準確的計算方法。用該方法研究了分段螺線管線圈內(nèi)部失超過程過電壓以及分段數(shù)目對磁體
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