插拔對(duì)電連接器接觸件貯存壽命影響的研究.pdf

1、一些型號(hào)定壽延壽意義重大，電連接器作為型號(hào)上各單元之間傳遞電能和信號(hào)的基礎(chǔ)機(jī)電元件，其壽命評(píng)估是型號(hào)定壽延壽的重要前提。目前，針對(duì)貯存電連接器的壽命評(píng)估主要是考察溫度的影響，而尚未考慮型號(hào)庫(kù)存測(cè)試時(shí)的插拔所產(chǎn)生的效應(yīng)，不能完全反映電連接器在貯存過(guò)程中經(jīng)歷的實(shí)際應(yīng)力狀態(tài)，其評(píng)估結(jié)果難以準(zhǔn)確地指導(dǎo)工程評(píng)判。本文以Y11P-1419型電連接器為對(duì)象，結(jié)合失效機(jī)理分析和加速退化試驗(yàn)研究，揭示貯存電連接器計(jì)入插拔與不計(jì)入插拔的效應(yīng)，并結(jié)合試驗(yàn)數(shù)據(jù)

2、評(píng)估計(jì)入插拔與不計(jì)入插拔的定量壽命區(qū)別，進(jìn)而為更準(zhǔn)確地評(píng)估型號(hào)上電連接器的貯存壽命提供理論支撐和實(shí)踐指導(dǎo)。
　　論文的主要工作如下：
　　1．闡述了本文的研究背景與意義，總結(jié)了貯存壽命評(píng)估的國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀，以及加速壽命和加速退化試驗(yàn)的發(fā)展歷程，根據(jù)電連接器貯存壽命研究的國(guó)內(nèi)外現(xiàn)狀，指出目前電連接器貯存壽命評(píng)估中的不足，進(jìn)而提出了本文的研究目標(biāo)和主要研究?jī)?nèi)容。
　　2．根據(jù)型號(hào)上電連接器的使用情況以及型號(hào)對(duì)電連接器的功能

3、要求，總結(jié)了型號(hào)上常用的電連接器類別及其主要特點(diǎn)，詳細(xì)分析了Y11P-1419型電連接器隨著型號(hào)貯存時(shí)的貯存剖面、貯存應(yīng)力和失效模式，并從失效機(jī)理層面揭示了插拔對(duì)貯存電連接器接觸性能的影響：插拔造成插拔后的阻值跳變；插拔過(guò)程刮擦磨損鍍金層和氧化膜，加速后續(xù)貯存期間的氧化腐蝕。
　　3．設(shè)計(jì)了嚴(yán)格的加速退化對(duì)照試驗(yàn)，證實(shí)了插拔后阻值出現(xiàn)跳變現(xiàn)象，通過(guò)設(shè)計(jì)補(bǔ)充試驗(yàn)，得到了插拔后接觸性能恢復(fù)穩(wěn)態(tài)的時(shí)間，采用非參數(shù)統(tǒng)計(jì)方法判別試驗(yàn)數(shù)據(jù)，結(jié)

4、果表明插拔加快了電連接器的退化速度，并結(jié)合試驗(yàn)樣品微觀接觸表面的SEM和EDS分析，直觀地驗(yàn)證了計(jì)入插拔的電連接器失效機(jī)理。
　　4．結(jié)合電連接器微觀表面的電勢(shì)變化和電接觸理論，建立了包含微觀影響因子的接觸電阻數(shù)學(xué)模型，進(jìn)一步計(jì)入接觸件長(zhǎng)期貯存時(shí)的蠕變和應(yīng)力松弛，建立了接觸電阻退化模型；采用回歸分析和最小二乘法估計(jì)了模型參數(shù)，并基于試驗(yàn)數(shù)據(jù)得到了120℃下的電連接器加速退化軌跡，計(jì)算得到計(jì)入插拔后電連接器接觸件的平均壽命減少了22