新型膜狀靜電放電抑制器的測(cè)試方法及性能參數(shù)研究.pdf

1、隨著電子技術(shù)的發(fā)展，靜電放電（ESD）問(wèn)題日益凸顯，同時(shí)電子產(chǎn)品的集成化發(fā)展也促使電子器件的敏感度不斷提高，靜電防護(hù)設(shè)計(jì)的難度不斷加大。目前使用ESD防護(hù)器件是一種較為直接、有效的解決方法，有助于提高系統(tǒng)抗擾度。為了配合一種新型膜狀ESD抑制器的研制，針對(duì)該抑制器的ESD防護(hù)特性，本文從基本原理、測(cè)試方法、測(cè)試討論以及結(jié)果對(duì)比等方面展開(kāi)了一系列研究工作。主要分為以下兩部分：
　　（1）ESD防護(hù)性能測(cè)試方法的研究。搭建了兩種靜電防

2、護(hù)性能的測(cè)試系統(tǒng)——人體金屬模型和傳輸線脈沖測(cè)試系統(tǒng)，并通過(guò)實(shí)驗(yàn)進(jìn)行深入研究。人體金屬模型測(cè)試是一種瞬態(tài)測(cè)試，能夠模擬真實(shí)的靜電放電現(xiàn)象。一次脈沖測(cè)試就能得到一系列詳細(xì)的防護(hù)參數(shù)，測(cè)試方便快捷但精度較差；人體金屬模型測(cè)試中放電電壓的選取對(duì)鉗位電壓、峰值電壓、消散功率等參數(shù)有一定影響，但與響應(yīng)時(shí)間、導(dǎo)通阻抗、維持點(diǎn)電壓和電流等關(guān)鍵參數(shù)沒(méi)有關(guān)聯(lián)。而傳輸線脈沖系統(tǒng)是一種暫穩(wěn)態(tài)測(cè)試，用計(jì)算電流代替測(cè)量電流，可以減少測(cè)試設(shè)備，提高系統(tǒng)精確度，而且

3、測(cè)試參數(shù)更為全面，但不能模擬真實(shí)放電情況。
　　為了分析兩種系統(tǒng)的相關(guān)性，對(duì)比同一器件在兩種不同系統(tǒng)中的測(cè)試結(jié)果。結(jié)果表明對(duì)于響應(yīng)速度快的ESD防護(hù)器件，兩種方法得到的測(cè)試參數(shù)一致性較好，可相互代替，而對(duì)于響應(yīng)速度慢、瞬態(tài)與暫穩(wěn)態(tài)特性不一致的器件，兩種測(cè)試結(jié)果有一定的差異。
　　（2）新型膜狀ESD抑制器的性能測(cè)試與分析。該抑制器利用納米技術(shù)將高分子和導(dǎo)電材料融合一起，根據(jù)內(nèi)部結(jié)構(gòu)的隧道效應(yīng)，使其在不同的電壓條件下分別呈現(xiàn)絕