大視場光電準直儀的準直測量精度研究.pdf

1、自準直測角技術(shù)作為一種幾何量測量方法，是利用光學(xué)自準直原理來實現(xiàn)高精度小角度測量或可轉(zhuǎn)換為小角度測量的技術(shù)，基于這項技術(shù)的光學(xué)儀器稱之為自準直儀。自準直儀按照測量結(jié)果輸出方式不同，分為光學(xué)自準直儀和光電自準直儀兩大類。在自準直儀系列中，作為新一代的光電自準直儀已經(jīng)廣泛地用于小角度測量、高精度角度標校、導(dǎo)軌的平直度、精密平臺的平面度、轉(zhuǎn)臺位置不確定度等測量領(lǐng)域。然而現(xiàn)有的光電自準直儀存在著測量范圍小、精度低的缺點，滿足不了現(xiàn)代社會的需求。

2、因此增大準直視場與提高自準直儀測量精度是先進自準直儀的主要發(fā)展方向，有著現(xiàn)實意義。
　　 本文主要致力于提高光電自準直儀的準直測量范圍，以及在大視場、小口徑的光學(xué)系統(tǒng)中如何保證準直測量精度。具體的是以大視場光電自準直儀研制過程為主線，將光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計作為重點，致力于提高有限的口徑條件下光電自準直儀的準直測量視場，即準直測量范圍。并且在此基礎(chǔ)上，進一步探索影響準直測量精度的關(guān)鍵技術(shù)(光學(xué)系統(tǒng)的光源設(shè)計、分光棱鏡設(shè)計和抗雜散光干擾分析

3、，以及測量軟件算法等)，以及光學(xué)裝調(diào)技術(shù)對測量精度的影響，用于提高自準直儀的大測量范圍下的測量精度。目前取得的進展主要有：
　　 首先，在調(diào)研國內(nèi)外相關(guān)產(chǎn)品技術(shù)的光學(xué)結(jié)構(gòu)基礎(chǔ)上，通過充分論證，選擇并確定大視場光電自準直儀的光學(xué)結(jié)構(gòu)形式。重點突出了光學(xué)主要參數(shù)的確定依據(jù)和參數(shù)計算。
　　 其次，將影響大視場準直測量精度的因素作為研究的關(guān)鍵技術(shù)，在光學(xué)系統(tǒng)的光源設(shè)計、分光棱鏡設(shè)計和抗雜散光干擾分析，以及測量軟件算法等方面進行