基于JTAG的嵌入式硬件測試平臺的設計與實現(xiàn).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著嵌入式系統(tǒng)技術的快速發(fā)展，其應用越來越廣泛，功能越來越復雜，硬件集成度越來越龐大。由于嵌入式系統(tǒng)設計的專有性，目前沒有一個通用的用于嵌入式硬件系統(tǒng)測試的平臺。為支持板上芯片或邏輯的測試，聯(lián)合測試行動小組專門設計和定義了一種通用的芯片邊界掃描結構及其測試訪問端口規(guī)范，稱為JTAG標準。但目前JTAG測試多在電路板一級對芯片或板上邏輯與連接進行測試、復位和系統(tǒng)調試，而對整個硬件系統(tǒng)的功能性并無太多關注。論文所要設計與實現(xiàn)的測試平臺就是為

2、測試嵌入式系統(tǒng)硬件功能性而提出的。
　　 論文以JTAG為基礎，以地震數(shù)據(jù)采集站硬件板為測試項目，設計并實現(xiàn)了基于JTAG的嵌入式系統(tǒng)硬件測試平臺。其主要組件包括JTAG接口構造、各硬件器件（ARM、單片機、SRAM、FPGA等）功能測試、串口驅動、顯示與控制程序等。測試時通過在線仿真器連接該測試平臺與被測嵌入式系統(tǒng)硬件，可以在屏蔽軟件影響（不加載操作系統(tǒng)，不加載嵌入式應用軟件）的情況下直接對各被測器件進行測試，最大限度地過濾干

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