電壓凹陷評估指標(biāo)及測量方法的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、電網(wǎng)中電能質(zhì)量問題日益突出,電能質(zhì)量問題越來越受到人們的重視.電壓凹陷作為電能質(zhì)量中的一個重要內(nèi)容,已經(jīng)被認(rèn)知為是影響許多用電設(shè)備正常、安全運(yùn)行最嚴(yán)重的電能質(zhì)量問題.國內(nèi)對電壓凹陷的研究還沒有深入,至今沒有相應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn).該文的目的就是對電壓凹陷國家標(biāo)準(zhǔn)的制定提供一些依據(jù).該文首先研究了電壓凹陷的起因及其波形特征,分析了原有的電壓凹陷評估指標(biāo),指出了其不足之處,結(jié)合電壓凹陷本身的特點(diǎn),提出新的指標(biāo)-電壓凹陷次深度、電壓凹陷恢復(fù)持續(xù)時間,

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