激光粒度儀測(cè)控系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與開發(fā).pdf

1、隨著粉體工業(yè)的不斷發(fā)展,對(duì)顆粒粒度測(cè)量技術(shù)也提出了更高的要求?？陀^真實(shí)地反映顆粒大小和粒度分布是一項(xiàng)非常重要的工作。在目前眾多的粒度測(cè)量技術(shù)中,基于光散射理論的激光粒度儀以其準(zhǔn)確、快速、非接觸等特點(diǎn),得到了非常廣泛的應(yīng)用。但是由于國(guó)內(nèi)這方面技術(shù)發(fā)展起步較晚,所以還與國(guó)外先進(jìn)水平有著較大差距。
　　 激光粒度儀測(cè)控系統(tǒng)是指激光粒度儀中涉及到測(cè)量和控制功能的硬件和軟件,是激光粒度儀的核心部分。本文系統(tǒng)研究了激光粒度測(cè)量的基本原理和數(shù)

2、學(xué)模型,并在此基礎(chǔ)上對(duì)激光粒度儀測(cè)控系統(tǒng)進(jìn)行了總體設(shè)計(jì)。激光粒度儀的測(cè)控系統(tǒng)包括數(shù)據(jù)采集器和測(cè)控軟件兩部分,前者主要是指將光電探測(cè)器接收到的散射信號(hào)轉(zhuǎn)換為可被計(jì)算機(jī)識(shí)別的數(shù)字量的硬件電路部分:而后者則是運(yùn)行于計(jì)算機(jī)的軟件部分。
　　 本文詳細(xì)闡述了數(shù)據(jù)采集器的設(shè)計(jì)與開發(fā)。信號(hào)調(diào)理元件采用高性能的TLC2254芯片；主控芯片采用C8051F410單片機(jī),它是具有12位A/D轉(zhuǎn)換器、最多支持24路模擬輸入的低功耗片上系統(tǒng)型MCU,是