片上網絡通訊結構可測性設計.pdf

1、測試已經成了集成電路設計制造中不可分割的一部分，而且隨著集成電路工藝復雜度和設計復雜度的提高，集成電路的測試變得越來越困難，也變得越來越重要。在這種情況下，可測性設計(Design For Test)技術成為解決芯片生產測試問題的主要手段之一，日益引起人們的重視。片上網絡(NoC)結構的顯著特點是規(guī)模巨大和互連通訊復雜。如此大規(guī)模的結構其制造故障也會隨之提高，這就對其測試提出了更高程度的要求，需要采用合理的測試策略及測試體系來對片上網絡

2、進行測試，以節(jié)省測試開銷。因此研究NoC測試策略及測試體系對解決NoC及未來電路測試難點有重要意義。 本文首先闡述了測試的基本概念，簡單地描述了故障檢測的基本原理以及現有的一些可測性方法。 NoC通訊結構的測試分為兩部分：路由開關間互連線的測試和路由開關的測試。針對路由開關間互連線的測試，采用MAF測試模型，利用BIST測試法，設計了TDG單元和TED單元，并通過軟件進行了仿真和綜合。對于路由開關的測試，由于NoC中數據

3、是以報文的方式進行傳播，則可以把測試數據封裝成報文的形式，通過路由開關在通訊網絡中傳播，進而對路由開關進行測試。根據報文地址段的不同，測試可以分為兩種：單播測試法和多播測試法。最后分析了兩種方法的測試時間。 然后本文針對NoC中資源網絡接口的多時鐘域問題，設計了異步FIFO，利用軟件對其進行功能仿真。并通過插入掃描鏈和隔離雙端口存儲器，設計了異步FIFO的測試結構。仿真結果顯示，插入掃描鏈后電路的面積和功耗有少量增加。