Freescale單片機MC68HC908GR8系列測試并行度提升.pdf

1、Freescale半導(dǎo)體公司是美國最大的半導(dǎo)體制造商之一，以生產(chǎn)優(yōu)質(zhì)半導(dǎo)體產(chǎn)品而聞名于世。她的產(chǎn)品種類多達幾萬種，其中主要的一項產(chǎn)品就是單片機(Micro Controller Unit)。Freescale單片機具有性能優(yōu)異，功能齊全，可靠性強，品種繁多，性能價格比高，使用方便等許多顯著特點，在家用電器，儀器儀表，汽車工業(yè)，通訊和智能化控制領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。其中MC68HC908GR8系列是Freescale最新推出的8位新型單片

2、機，也是Freescale公司目前大力推廣的產(chǎn)品之一，用以替代M68HC05系列單片機。它是專門為汽車電子中的低功耗、單片上系統(tǒng)而設(shè)計。 在MC68HC908系列單片機的生產(chǎn)制造流程中，測試是十分重要的一環(huán)。不斷增加的MCU器件復(fù)雜度進一步提高了測試需求，對測試成本也有了更高的限制。芯片制造商通過下面一些方法降低測試成本：1)通過應(yīng)用新的測試技術(shù)減少測試時間，2)增加并行度和吞吐量，3)通過增強靈活性和可擴展性提高測試設(shè)備的利用

3、率和使用壽命。 本論文從增加芯片測試系統(tǒng)并行度的角度入手，接合數(shù)字電路測試理論和Teradyne J750測試系統(tǒng)原理，通過設(shè)計并行度為8的新測試板(loadboard)和修改測試程序等方面的工作對J750系統(tǒng)進行測試并行度方面改進，將MC68HC908GR8系列產(chǎn)品的測試并行度從4提升至8，同時解決了GR8芯片A/D模塊測試低良品率和LVI模塊測試低良品率的問題，提高了生產(chǎn)效率。 相關(guān)性實驗證明，整個項目過程符合生產(chǎn)可

4、靠性和工程設(shè)計理論，提升并行度后的測試系統(tǒng)能夠滿足高并行度下芯片測試要求。通過本項目，我們對半導(dǎo)體行業(yè)后道工藝有了進一步的了解，對數(shù)字電路測試原理、數(shù)?；旌想娐窚y試原理、Teradyne J750測試平臺工作原理有了深入的認識、掌握了DELTA FLEX(UTS)型號Handler操作規(guī)程。尤其重要的是，我們掌握了工程實踐中解決問題和開展科研工作的一般方法和原則，這些經(jīng)驗對于以后的科研工作具有指導(dǎo)性意義。 MC68HC908GR