開題報告----基于單片機(jī)的頻率特性測試電路設(shè)計(jì)_第1頁
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1、<p> 畢業(yè)設(shè)計(jì)(論文)題目背景、研究意義及國內(nèi)外相關(guān)研究情況。(一)、題目背景:隨著社會不斷的進(jìn)步,各種電器已經(jīng)走千家萬戶,電器已經(jīng)成為我們生活的重要部分,而這些電器都是由各種電路組成,在電路的設(shè)計(jì)或產(chǎn)品、調(diào)試中,經(jīng)常需要了解電路的幅頻特性(輸入電壓恒定,輸出電壓隨頻率變化的特性曲線),從而測算出電路的電壓增益、輸入/輸出阻抗及傳輸線特性阻抗等各項(xiàng)參數(shù)。掃頻儀一般采用掃頻測量法,以頻率按一定規(guī)律、在一定范圍內(nèi)連續(xù)掃動的信號

2、作為檢測信號,并在示波器上直接描繪出電路的幅頻特性曲線 頻率等的測量是電路檢測中經(jīng)常需要的。頻率特性測試可采用沖擊響應(yīng)測試法和掃頻測試法。設(shè)計(jì)并制作一個頻率特性測試系統(tǒng),包括測試信號源、信號網(wǎng)絡(luò)、檢波及顯示四部分。幅頻特性測試:頻率范圍:100Hz~100kHz,頻率步進(jìn)10Hz,測量精度5%,能在全范圍自動測量。(二)、研究意義:傳統(tǒng)的掃頻儀大多是用LC電路構(gòu)成掃頻振蕩器,結(jié)構(gòu)復(fù)雜、功能單一且不易與其它設(shè)備連接,在實(shí)際應(yīng)用中受到很大的

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