2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁(yè)
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1、1磁粉Ⅱ、Ⅲ級(jí)考試GFMT2007驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)(200704修改稿)驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)目錄驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)目錄(1)GFMT012007鋼棒塔形試樣驗(yàn)收技術(shù)條件(2)GFMT022007鍛鋼連桿驗(yàn)收技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)(3)GFMT032007焊縫缺陷磁痕的分級(jí)(4)GFMT042007鑄鋼件缺陷磁痕的質(zhì)量等級(jí)1GFMT012007鋼棒塔形試樣驗(yàn)收技術(shù)條件鋼棒塔形試樣驗(yàn)收技術(shù)條件本技術(shù)條件適用于尺寸ф16mm≤D≤ф300mm的熱軋、鍛造及冷拉鋼鋼棒用塔形試樣檢驗(yàn)發(fā)紋,

2、并應(yīng)符合表11的規(guī)定。關(guān)于用塔形試樣檢驗(yàn)發(fā)紋的要求:①每批鋼棒加工送檢3個(gè)塔形試樣,共9個(gè)階梯。②塔形試樣見圖11圖11表11評(píng)定項(xiàng)目允許條數(shù)和長(zhǎng)度每階梯發(fā)紋條數(shù)3條發(fā)紋最大長(zhǎng)度6mm每階梯發(fā)紋總長(zhǎng)度10mm發(fā)紋總長(zhǎng)度25mm發(fā)紋總條數(shù)5條注:①鋼棒的每個(gè)塔形試樣發(fā)紋應(yīng)符合表中的規(guī)定。若每組塔形試樣(3個(gè))中任一個(gè)不符合表1規(guī)定要求則該批為不合格。②發(fā)紋起算長(zhǎng)度為0.6mm。③在同一母線上兩條發(fā)紋間距小于2mm時(shí),則作為一條計(jì)算(長(zhǎng)度包

3、括間距尺寸)。④當(dāng)塔形試樣發(fā)紋從一個(gè)臺(tái)階延伸到端面上,也視為不合格。⑤用酸浸、探傷或其它方法顯示發(fā)紋。如未明確指定方法,則仲裁以酸浸法為準(zhǔn)。⑥鋼棒塔形試樣車削尺寸(mm)應(yīng)符合下表:鋼棒尺寸(D)第一階梯第二階梯第三階梯各階梯長(zhǎng)度<150D523D13D50mm>150~250D1623D13D50mm>250~300D2023D13D50mm3痕。2.4.4II區(qū)內(nèi),允許有一條或兩條累計(jì)長(zhǎng)度不超過(guò)該部分長(zhǎng)度120的B類磁痕,不允許出現(xiàn)

4、A類磁痕。2.4.5III區(qū)內(nèi),允許有一條長(zhǎng)度或兩條累計(jì)長(zhǎng)度不超過(guò)該部分長(zhǎng)度115的B類磁痕,不允許出現(xiàn)A類磁痕。2.4.6在垂直于工件流線方向的同一截面上的缺陷磁痕只允許存在一條。2.5缺陷的修整缺陷的修整2.5.1A、B類缺陷,允許在尺寸公差范圍內(nèi)或連桿毛坯修整范圍內(nèi)修整,加工面部分允許在尺寸公差范圍內(nèi)修除。2.5.2修整后的連桿,修整部位應(yīng)平整圓過(guò)滑,經(jīng)表面處理后,再次進(jìn)行探險(xiǎn)傷和驗(yàn)收。3GFMT032007焊縫缺陷磁痕的分級(jí)焊縫

5、缺陷磁痕的分級(jí)本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了焊縫表面和近表面缺陷的磁痕分級(jí),適用于鐵磁性材料熔焊焊縫表面和近表面質(zhì)量的磁粉檢驗(yàn)。3.1磁痕的分類和處理3.1.1磁痕顯示分為相關(guān)顯示、非相關(guān)顯示和偽顯示。3.1.2長(zhǎng)度與寬度之比大于3的磁痕,按線性磁痕處理;長(zhǎng)度與寬度之比不大于3的磁痕,按圓形磁痕處理。3.1.3長(zhǎng)度小于0.5mm的磁痕不計(jì)。3.1.4兩條或兩條以上磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時(shí),按一條磁痕處理,其長(zhǎng)度為兩條磁痕之和加間距。3.1.5

6、缺陷磁痕長(zhǎng)軸方向與工件(軸類或管類)軸線或母線的夾角大于或等于30。時(shí),按橫向缺陷處理,其他按縱向缺陷處理。3.2質(zhì)量評(píng)定和返修后的檢驗(yàn)質(zhì)量評(píng)定和返修后的檢驗(yàn)3.2.1不允許存在的缺陷不允許存在任何裂紋任何橫向缺陷顯示。3.2.2焊接接頭的磁粉檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)焊接接頭的磁粉檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)見表6。表6焊接接頭的磁粉檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)等級(jí)線性缺陷磁痕圓形缺陷磁痕(評(píng)定框尺寸為35mm100mm)Ⅰ不允許d≤1.5,且在評(píng)定框內(nèi)不大于1個(gè)Ⅱ不允許d≤3.

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