硬盤故障

1、硬盤故障分類硬盤各部位常見(jiàn)故障匯總：1）硬盤的供電：硬盤的供電取自主機(jī)的開(kāi)關(guān)電源，四個(gè)接線柱的電壓分別為：紅色為正5V，黑色為地線，黃色為正12V，通過(guò)線性電源變換電路，變換為硬盤正常工作的各種電壓。硬盤的供電電路如果出現(xiàn)問(wèn)題，會(huì)直接導(dǎo)致硬盤不能工作。故障現(xiàn)象往往表現(xiàn)為不通電、硬盤檢測(cè)不到、盤片不轉(zhuǎn)、磁頭不尋道等。供電電路常出問(wèn)題的部位是：插座的接線柱、濾波電容、二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、電感、保險(xiǎn)電阻等。2）接口：接口是硬盤與計(jì)算機(jī)之

2、間傳輸數(shù)據(jù)的通路，接口電路如出現(xiàn)故障可能會(huì)導(dǎo)致硬盤檢測(cè)不到、亂碼、參數(shù)誤認(rèn)等現(xiàn)象。接口電路常出故障的部位是接口芯片或與之匹配的晶振壞、接口插針斷或虛焊或臟污、接口排阻損壞，部分硬盤的接口塑料損壞導(dǎo)致廠家不予保修。3）緩存：用于加快硬盤數(shù)據(jù)傳輸速度，如出現(xiàn)問(wèn)題可能會(huì)導(dǎo)致硬盤不被識(shí)別、亂碼、進(jìn)入操作系統(tǒng)后異常死機(jī)等現(xiàn)象。4）BIOS：用于保存與硬盤容量、接口信息等，硬盤所有的工作流程都與BIOS程序相關(guān)，通斷電瞬間可能會(huì)導(dǎo)致BIOS程序丟失

3、或紊亂。BIOS不正常會(huì)導(dǎo)致硬盤誤認(rèn)、不能識(shí)別等各種各樣的故障現(xiàn)象。5）磁頭芯片：貼裝在磁頭組件上，用于放大磁頭信號(hào)、磁頭邏輯分配、處理音圈電機(jī)反饋信號(hào)等，該芯片出現(xiàn)問(wèn)題可能會(huì)出現(xiàn)磁頭不能正確尋道、數(shù)據(jù)不能寫入盤片、不能識(shí)別硬盤、異響等故障現(xiàn)象。6）前置信號(hào)處理器：用于加工整理磁頭芯片傳來(lái)的數(shù)據(jù)信號(hào)，該芯片如出現(xiàn)問(wèn)題可能會(huì)出現(xiàn)不能正確識(shí)別硬盤的故障現(xiàn)象。7）數(shù)字信號(hào)處理器：用于處理前置信號(hào)處理器傳過(guò)來(lái)的數(shù)據(jù)信號(hào)，并對(duì)該信號(hào)解碼或接收計(jì)算

4、機(jī)傳過(guò)來(lái)的數(shù)據(jù)信號(hào)，并對(duì)該信號(hào)進(jìn)行編碼。8）電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片：用于驅(qū)動(dòng)硬盤主軸電機(jī)和音圈電機(jī)?，F(xiàn)在的硬盤由于轉(zhuǎn)速太高導(dǎo)致該芯片發(fā)熱量太大而損壞，據(jù)不完全統(tǒng)計(jì)，70%左右的硬盤電路路障是由該芯片損壞引起。9）盤片：用于存儲(chǔ)硬盤數(shù)據(jù)，輕微劃傷時(shí)可通過(guò)軟件按一定的算法解碼糾錯(cuò)，嚴(yán)重劃傷時(shí)，數(shù)據(jù)不可恢復(fù)。10）主軸電機(jī)：用于帶動(dòng)盤片高速旋轉(zhuǎn)，現(xiàn)在的硬盤大多使用液態(tài)軸承馬達(dá)，精度極高，劇烈碰撞后可能會(huì)使間隙變大，讀取數(shù)據(jù)變得困難、異響或根本檢測(cè)不到硬

5、盤。該故障現(xiàn)象需用專用設(shè)備才能讀取里面的數(shù)據(jù)。11）磁頭：用于讀取或?qū)懭胗脖P數(shù)據(jù)，受到劇烈碰撞時(shí)易于損壞，導(dǎo)致不認(rèn)硬盤。硬盤受到碰撞后受損可能性更大的是磁頭。12）音圈電機(jī)：閉環(huán)控制電機(jī)，用于把磁頭準(zhǔn)確定位在磁道上。該電機(jī)較少損壞。13）定位卡子：用于使磁頭停留在啟停區(qū)，IBM等系列的硬盤的卡子易錯(cuò)位，導(dǎo)致磁頭不能正常尋道。在無(wú)開(kāi)盤維修條件的情況下，可按一定的角度適當(dāng)敲擊硬盤，使卡子回復(fù)到正確位置。硬盤電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片打阻值：硬盤電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯

6、片是硬盤電路部分最易損壞的芯片，70%左右的硬盤電路故障是由該芯片損壞引起。而電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片到底是否損壞可通過(guò)芯片周圍引腳對(duì)地打阻值來(lái)大致判斷。下列表格是常見(jiàn)硬盤電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片各引腳對(duì)地反向阻值表。用于確認(rèn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片是否損壞。數(shù)據(jù)測(cè)試采用9205型數(shù)字萬(wàn)用表，紅表筆接地，黑表筆指向被測(cè)引腳。對(duì)于只有兩面有引腳的芯片，從第一個(gè)引腳開(kāi)始按逆時(shí)針?lè)较虻囊_用兩列數(shù)字來(lái)表示，其中第一列表示的是第一面的阻值，第二列表示第二面的阻值。對(duì)于四面都有引腳

7、的芯片，從第一個(gè)引腳開(kāi)始按逆時(shí)針?lè)较虻囊_用四列數(shù)字來(lái)表示，其中1706寫操作失敗1707道信號(hào)錯(cuò)1708磁頭選擇信號(hào)有錯(cuò)1709ECC檢驗(yàn)錯(cuò)1710讀數(shù)據(jù)時(shí)扇區(qū)緩沖器溢出1711壞的地址標(biāo)志1712不可識(shí)別的錯(cuò)誤1713數(shù)據(jù)比較錯(cuò)1780硬盤驅(qū)動(dòng)器C故障1781D盤故障1782硬盤控制器錯(cuò)1790C盤測(cè)試錯(cuò)1791D盤測(cè)試錯(cuò)壞道讓人傷心硬盤缺陷探秘硬盤是目前PC系統(tǒng)中最主要的存儲(chǔ)設(shè)備，同時(shí)硬盤是PC系統(tǒng)中出故障率最高的部件。用戶在使用

8、硬盤過(guò)程中，硬盤出現(xiàn)故障怎么辦呢？如果還在質(zhì)保期內(nèi)，當(dāng)然是盡量找到銷售商要求保修。但現(xiàn)在大多數(shù)IDE硬盤質(zhì)保期只有一年，而大多數(shù)用戶都希望一個(gè)硬盤能使用三年以上。如果質(zhì)保期過(guò)后硬盤出了故障，就得考慮更換或?qū)λM(jìn)行修理。筆者這幾年來(lái)一直從事硬盤維修工作，經(jīng)常與國(guó)內(nèi)外的同行交流，查閱過(guò)大量的外文專業(yè)資料，研究使用過(guò)多種專業(yè)的硬盤修復(fù)工具，成功修復(fù)了近萬(wàn)個(gè)硬盤。在這里，筆者與讀者探討一些硬盤缺陷及其修復(fù)原理，同時(shí)介紹并解釋一些專業(yè)修復(fù)硬盤軟件

9、中常用到的概念。但筆者暫不探討在各種操作系統(tǒng)下硬盤中的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)問(wèn)題及數(shù)據(jù)恢復(fù)問(wèn)題，而是直接探討硬盤本身的缺陷問(wèn)題。一、缺陷的分類如果經(jīng)檢測(cè)發(fā)現(xiàn)某個(gè)硬盤不能完全正常工作，則稱這個(gè)硬盤是“有缺陷的硬盤”（DefectHardDisk）。根據(jù)維修經(jīng)驗(yàn)，筆者將硬盤的缺陷分為六大類①壞扇區(qū)（Badsect），也稱缺陷扇區(qū)（Defectsect）②磁道伺服缺陷（TrackServodefect）③磁頭組件缺陷（Headsassemblydefec

10、t）④系統(tǒng)信息錯(cuò)亂（Serviceinfmationdestruction）⑤電子線路缺陷（Theboardofelectronicsdefect）⑥綜合性能缺陷（Complexreliabilitydefect）1.壞扇區(qū)（也稱缺陷扇區(qū)）指不能被正常訪問(wèn)或不能被正確讀寫的扇區(qū)。一般表現(xiàn)為：高級(jí)格式化后發(fā)現(xiàn)有“壞簇（BadClusters）；用SCISK等工具檢查發(fā)現(xiàn)有“B”標(biāo)記；或用某些檢測(cè)工具發(fā)現(xiàn)有“扇區(qū)錯(cuò)誤提示”等。一般每個(gè)扇區(qū)可

11、以記錄512字節(jié)的數(shù)據(jù)，如果其中任何一個(gè)字節(jié)不正常，該扇區(qū)就屬于缺陷扇區(qū)。每個(gè)扇區(qū)除了記錄512字節(jié)的數(shù)據(jù)外，另外還記錄有一些信息：標(biāo)志信息、校驗(yàn)碼、地址信息等，其中任何一部分信息不正常都導(dǎo)致該扇區(qū)出現(xiàn)缺陷。多數(shù)專業(yè)檢測(cè)軟件在檢測(cè)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)，都有類似的錯(cuò)誤信息提示，常見(jiàn)的扇區(qū)缺陷主要有幾種情況：①校驗(yàn)錯(cuò)誤（ECCuncrectableerrs，又稱ECC錯(cuò)誤）。系統(tǒng)每次在往扇區(qū)中寫數(shù)據(jù)的同時(shí)，都根據(jù)這些數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)一定的算法運(yùn)算生成一