材料現(xiàn)代分析方法_北京工業(yè)大學出版社_復習重點

1、北工大復習重點1金相樣品制備：取樣鑲嵌粗磨精磨粗拋細拋浸蝕試樣連續(xù)X射線的強度隨管電流、陽極靶原子序數(shù)和管電壓的增加而增大。特征X射線波長與靶材料原子序數(shù)有關：原子序數(shù)越大，核對內層電子引力上升，?下降為什么X射線衍射可以用來分析表征晶體的結構問題？————衍射線束的方向——晶胞的形狀大小衍射線束的強度——晶胞中原子的位置和種類決定衍射線束的形狀大小與晶體的形狀大小相關用波長為的x射線照射晶體時，晶體中只有面間距dλ2的晶面才能產生衍射

2、。當干涉指數(shù)是廣義的晶面指數(shù)，當它互為質數(shù)時，就代表一組真實的晶面所有能發(fā)生反射的晶面，其倒易點都應落在以O’為球心，以1λ為半徑的球面上一束X射線照射一個原子列，凡是符合勞埃方程（一維二維三維）方向的都有可能產生衍射線。德拜相機圓筒常常設計為內圓周長為180mm和360mm，對應的圓直徑為φ57.3mm和φ114.6mm。這樣的設計目的是使底片在長度方向上每毫米對應圓心角2和1，為將底片上測量的弧形線對距離2L折算成2θ角提供方便德拜

3、法衍射儀法比較入射光束單色類似樣品形狀細圓柱平板狀成像原理Bragg方程相同衍射線記錄方式靜態(tài)圓形底片感光旋轉輻射探測器衍射花樣衍射?。▽Γ㊣2θ曲線樣品吸收同時接收衍射逐一接收衍射衍射強度吸收項不一樣衍射裝備德拜相機衍射儀應用強度測量花樣標定物相分析類似衍射儀法的特點:?存在兩個圓(測角儀圓聚焦圓)?衍射是那些平行于試樣表面的平面提供的?相對強度計算公式不同北工大復習重點3衍射襯度質厚襯度概念樣品各處衍射線強度差異形成的襯度樣品不同微

4、區(qū)間存在原子序數(shù)或厚度的差異形成的襯度范圍晶體樣品非晶體樣品影響因素晶體取向和結構振幅，對沒有成分差異的單向材料，衍射襯度是由樣品各處布拉格條件程度的差異造成的TEM物鏡光欄孔徑和加速電壓成像為獲得高襯度高質量的圖像，總是通過傾斜樣品臺獲得“雙束條件”——在選區(qū)衍射譜上除強的直射束外只有一個強衍射束可利用任意的散射電子SEM結構：由電子光學系統(tǒng)、信號收集及顯示系統(tǒng)、真空系統(tǒng)及電源系統(tǒng)組成。工作原理：細電子束掃描樣品表面激發(fā)樣品產生各種物

5、理信號其強度隨樣品表面特征而變.掃描電鏡的分辨率和信號種類有關——信號來源于不同的位置，且強度隨樣品的表面特征而改變，故在空間的擴展程度不一樣，擴展程度輕的，分辨率高；擴展程度深的，分辨率低。信號分辨率由高到低：俄歇電子二次電子背散射電子特征X射線吸收電子透射電子信號名稱來源俄歇電子原子內層電子能級躍遷過程中釋放出來的能量不以X射線的形式釋放，而是用該能量將核外另一電子打出，脫離原子變?yōu)槎坞娮?，這種二次電子叫做俄歇電子。二次電子被入射