gb t 2423.8-1995跌落試驗方法

1、前言本標準等同采用國際電工委員會標準IEC68232（1975年第二版）基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法試驗Ed：自由跌落、1982年的第一次修改和1990年的第二次修改。這樣，使這項國家標準和國際標準相同，以適應國家貿易、技術和經濟交流的需求。本標準代替GB2423.881《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ed：自由跌落試驗方法》和GB2424.681《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程自由跌落試驗導則》。GB2423.881和GB242

2、4.6是參照準IEC68232（1975年第二版）基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法試驗Ed：自由跌落起草的。本標準在技術內容、編寫格式和規(guī)則上都是與IEC68232（1975）、1982年的第一次修改文本，1990年的第二次修改文本完全相同。本標準與前版的主要區(qū)別在于：將GB2423.8和GB2424.6兩個標準合并成一個標準GBT2423.8接IEC682321982年和1990年的兩次修改，對方法二和附錄A做了修改，補充了附錄B。

3、下列是四項標準與本標準均屬撞擊試驗范疇，有關規(guī)范應根據產品的使用和運輸的具體情況選擇合適的試驗方法（見附錄B）。GBT2423.51995電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ea和導則：沖擊；GBT2423.61995電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Eb和導則：碰撞；GBT2423.71995電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ec和導則：傾跌與翻倒（主要用于設備型樣品）；GBT2423.3990電工電子產品基本環(huán)

4、境試驗規(guī)程試驗Ee：彈跳試驗方法。本標準的附錄A、附錄B是標準的附錄。本標準是由中華人民共和國電子行業(yè)部提出。本標準是由全國電子產品環(huán)境條件和環(huán)境試驗標準化技術委員會歸口。本標準起草單位：郵電部第一研究所、電子行業(yè)部第五研究所。本標準主要起草人：王裕春、魏蓓、何錦康、于占泉、王樹榮。電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed自由跌落引言引言本試驗分為兩種方法：第一種方法通常是用來模擬非包裝狀態(tài)的產品在搬運期間可能經受的自由跌落，樣品

5、通常是按照規(guī)定的姿態(tài)從規(guī)定的高度跌落到規(guī)定的表面上兩次，第二章方法通常是用來模擬附在電纜上的連機器、小型遙控裝置等在使用中可能經受的重復自由跌落。使試驗樣品從規(guī)定高度重復旋轉跌落到規(guī)定的表面上。它是通過使用合適的設備，（例如）滾筒來實現的。方法一：自由跌落1.目的確定產品在搬運期間由于粗率裝卸遭到跌落的適應性，或確定安全要求用的最低牢固等級。本使用主要用于非包裝的試驗樣品，以及在運輸中其包裝可以作為樣品一部分的試驗樣品。2.試驗條件2.

6、1試驗表面試驗表面應該是混疑土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面。必要時，有關規(guī)范可以規(guī)定其它表面。2.2跌落高度是指試驗樣品在跌落前懸掛著的時候，試驗表面與離它最近的樣品部分之間的高度。2.3釋放方法釋放試驗樣品的方法應使試驗樣品從懸掛的位置自由跌落。釋放時，要使干擾最小。3.嚴酷等級應從下列諸值中選取跌落高度：（25）、50、（100）、250、（500）、（1000）mm。帶括號的數值是優(yōu)選值。注：重型設備不宜經受較高的嚴酷等級。4初

7、始檢測按有關規(guī)范的規(guī)定對樣品進行外觀檢驗、電性能和機械性能檢測。5條件試驗5.1應按有關規(guī)范的規(guī)定，使樣品處于正常運輸和使用時的姿態(tài)進行自由跌落。5.2除非有關規(guī)范另有規(guī)定，試驗樣品應該從每個規(guī)定的位置跌落兩次。6最后檢測試驗樣品按有關規(guī)范的規(guī)定對樣品進行外觀檢驗、電性能和機械性能檢測。7有關規(guī)范應給出的內容當有關規(guī)范采用本試驗時，應給出下列詳細內容：a）試驗表面，如果不是混凝土或剛質的（見2.1）；b）跌落高度（見第3章）；c）初始檢