基于虛擬儀器技術的半導體材料測試系統(tǒng)設計.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、半導體熱電材料的電阻率和電動勢率是判斷其熱電性能好壞的重要標準，通過測量電阻率和電動勢率，可以得到半導體熱電材料的功率因子，從而分析材料的熱電轉換效率。為了對半導體熱電材料的熱電性能做出快速而精準的判斷，檢測材料的電阻率和電動勢率是十分必要的。
　　針對測試系統(tǒng)測量過程中偏差數(shù)據(jù)對測量數(shù)據(jù)的干擾現(xiàn)象，本文在深入研究均值數(shù)據(jù)處理方法和最小二乘直線擬合方法的基礎上，提出了歸一化加權平均算法和改進的RANSAC算法對電阻率和電動勢率的測

2、量數(shù)據(jù)進行優(yōu)化處理，提高了系統(tǒng)的測試速度和測量精度。本文采用LabVIEW虛擬儀器技術完成了半導體熱電材料性能測試系統(tǒng)的設計和制作任務，測試系統(tǒng)采用直線直流四探針法測量半導體材料的電阻率。通過對半導體材料一端進行快速加熱，使半導體兩端產(chǎn)生溫差，從而測得半導體材料的溫差電動勢率。系統(tǒng)使用USB-6009數(shù)據(jù)采集卡作為硬件電路的核心，實現(xiàn)多路電壓信號的采集，采集到的數(shù)據(jù)傳到LabVIEW虛擬儀器平臺進行顯示及保存，不需要儀器操作者進行過多的

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