基于倒數(shù)-譜殘差與SLIC超像素分割的圖像顯著性方法研究.pdf

1、隨著互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的快速發(fā)展，接收的圖像信息數(shù)以千萬(wàn).人工處理這些圖像信息已經(jīng)不能達(dá)到預(yù)定的需求，人們更希望借助計(jì)算機(jī)來(lái)分析圖像信息.研究人員借助人類視覺(jué)機(jī)制提出了圖像顯著性探測(cè)方法.然而，現(xiàn)有的圖像顯著性檢測(cè)方法仍在提取精度、完整度以及計(jì)算復(fù)雜性等方面存在缺陷.在此背景下，文章介紹了四種典型顯著性檢測(cè)方法，并針對(duì)現(xiàn)有方法的不足作出了相應(yīng)地改進(jìn)，主要內(nèi)容如下:
　　(1)提出了基于倒數(shù)-譜殘差的顯著對(duì)象探測(cè)方法，來(lái)改進(jìn)現(xiàn)有檢測(cè)方法的不

2、足.該方法采用灰度圖像與對(duì)應(yīng)的高斯低通濾波的差提取圖像顏色特征，并減少高斯金字塔至6級(jí)以降低冗余;其次，引入倒數(shù)提取局部方向信息;再運(yùn)用譜殘差方法提取圖像的譜特征;最后，融合生成最終顯著圖.實(shí)驗(yàn)表明，本文提出的方法在準(zhǔn)確率(precision)、召回率(recall)及F-measure等指標(biāo)上都有明顯提高.
　　(2)針對(duì)RC方法中分割的缺點(diǎn)，提出了利用SLIC超像素分割方法的圖像顯著性檢測(cè)方法.其總體思路是先對(duì)圖像進(jìn)行分層減少