基于彈光調(diào)制的波片雙折射測試系統(tǒng)研究.pdf

1、近年來電子技術(shù)、激光技術(shù)等領(lǐng)域不斷發(fā)展，光學測量技術(shù)取得了卓越的成績和突破性的進展，測量的精度和效率都在不斷提高，數(shù)字顯示技術(shù)、自動測量技術(shù)的引入也使偏振光學技術(shù)有了更大的發(fā)展空間。波片在光學調(diào)制系統(tǒng)中是一個非常重要的器件，在光學偏振和晶體光學等領(lǐng)域都有應(yīng)用，它的主要作用是對入射偏振光產(chǎn)生相位變化以達到改變光的偏振態(tài)的目的。因此波片的雙折射指標會對光學精密儀器的質(zhì)量、激光的偏振狀態(tài)以及通訊的效果產(chǎn)生直接的影響。
　　本文對波片雙折

2、射測量系統(tǒng)進行了整體的搭建，首先激光器發(fā)出的平行光束相繼通過偏光器、PEM、待測四分之一波長波片、檢偏鏡，然后入射到光電探測器。信號處理單元設(shè)計了以FPGA為核心的硬件電路，以完成對光學信號的互相關(guān)運算，提取出計算所需要的基頻項、二次諧波項、四次諧波和直流項。硬件電路部分包括信號的A/D轉(zhuǎn)換模塊，USB通信模塊等。在FPGA內(nèi)實現(xiàn)了A/D采集時鐘的控制，基于DDS的參考信號產(chǎn)生以及數(shù)字鎖相算法等，然后通過USB將數(shù)據(jù)傳送到LabVIEW