基于延時(shí)相關(guān)的綜合孔徑輻射計(jì)關(guān)鍵技術(shù)研究.pdf

1、綜合孔徑微波輻射計(jì)的技術(shù)已經(jīng)相當(dāng)成熟，它廣泛應(yīng)用于對(duì)地遙感，目標(biāo)探測(cè)等領(lǐng)域。相比于實(shí)孔徑微波輻射計(jì)，綜合孔徑微波輻射計(jì)利用小天線來代替大天線，避免了天線口徑過大帶來的機(jī)械掃描困難等問題。然而，大型綜合孔徑輻射計(jì)由于通道個(gè)數(shù)太多面臨通道不一致性問題，這會(huì)導(dǎo)致輻射計(jì)反演出的場(chǎng)景亮溫的失真。特別是在星載綜合孔徑輻射計(jì)的應(yīng)用中，星上校正也成為一個(gè)難題。相關(guān)運(yùn)算耗費(fèi)了大量的時(shí)間，使得在數(shù)據(jù)量大的情況下數(shù)據(jù)處理耗時(shí)長(zhǎng)，效率低。在這一背景下，本文旨在

2、提出一種新的微波輻射成像系統(tǒng)——基于延時(shí)相關(guān)的綜合孔徑輻射計(jì)。本文分析延時(shí)相關(guān)綜合孔徑輻射計(jì)的有關(guān)理論，并進(jìn)行了仿真驗(yàn)證。
　　首先，論文闡述了綜合孔徑輻射成像的理論基礎(chǔ)，并由此引出了延時(shí)相關(guān)綜合孔徑輻射計(jì)理論，分析了電磁輻射基本特性，比較了延時(shí)相關(guān)情況下可見度函數(shù)與傳統(tǒng)綜合孔徑的區(qū)別。然后，針對(duì)綜合孔徑輻射計(jì)誤差來源分析了延時(shí)相關(guān)綜合孔徑輻射計(jì)的主要誤差來源——天線位置誤差，延時(shí)線衰減誤差，周期信號(hào)干擾誤差，信號(hào)弱相關(guān)性引起的誤