基于延時相關的綜合孔徑輻射計關鍵技術研究.pdf

1、綜合孔徑微波輻射計的技術已經相當成熟，它廣泛應用于對地遙感，目標探測等領域。相比于實孔徑微波輻射計，綜合孔徑微波輻射計利用小天線來代替大天線，避免了天線口徑過大帶來的機械掃描困難等問題。然而，大型綜合孔徑輻射計由于通道個數(shù)太多面臨通道不一致性問題，這會導致輻射計反演出的場景亮溫的失真。特別是在星載綜合孔徑輻射計的應用中，星上校正也成為一個難題。相關運算耗費了大量的時間，使得在數(shù)據量大的情況下數(shù)據處理耗時長，效率低。在這一背景下，本文旨在

2、提出一種新的微波輻射成像系統(tǒng)——基于延時相關的綜合孔徑輻射計。本文分析延時相關綜合孔徑輻射計的有關理論，并進行了仿真驗證。
　　首先，論文闡述了綜合孔徑輻射成像的理論基礎，并由此引出了延時相關綜合孔徑輻射計理論，分析了電磁輻射基本特性，比較了延時相關情況下可見度函數(shù)與傳統(tǒng)綜合孔徑的區(qū)別。然后，針對綜合孔徑輻射計誤差來源分析了延時相關綜合孔徑輻射計的主要誤差來源——天線位置誤差，延時線衰減誤差，周期信號干擾誤差，信號弱相關性引起的誤