鈦酸鋇-導電粒子-聚偏氟乙烯復合薄膜的制備與介電性能研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著現(xiàn)代科學技術(shù)的飛速發(fā)展,電力電子系統(tǒng)領(lǐng)域迫切需要性能更為卓越的介電材料。其中,包括柵介質(zhì),高儲能密度電容器以及電活性材料等在內(nèi)的微電子器件均要求納米復合材料在具有高介電常數(shù)和介電強度的同時,依然擁有低介電損耗、高的擊穿場強和良好的韌性。本文通過對于無機填料粒子的表面結(jié)構(gòu)設(shè)計,調(diào)控復合材料的介電性能,并且對于填充相復合粒子與復合薄膜介電性能的內(nèi)在關(guān)系進行研究分析。主要研究內(nèi)容和結(jié)果如下:
  利用化學鍍的方法將Ni納米粒子非連續(xù)

2、沉積在BaTiO3(BT)陶瓷粉體表面,制備BT-Ni復合粉體。并在此基礎(chǔ)上,將BT-Ni復合粉體和聚偏氟乙烯(PVDF)熔融共混,制備BT-Ni/PVDF復合薄膜。對復合材料進行介電性能研究發(fā)現(xiàn),Ni納米粒子增加了BT和PVDF基體之間的界面電導進而提升了空間電荷極化和MWS效應(yīng),當BT-Ni的填充體積分數(shù)為20vol.%時,復合薄膜的介電常數(shù)在100Hz時達到了61,是同樣體積分數(shù)BT/PVDF的2.58倍。Ni納米粒子緊密的沉積在

3、BT粒子表面,降低了Ni納米粒子相互接觸,使得在PVDF基體中很難形成持續(xù)的導電通路,顯著抑制了復合薄膜介電損耗和電導率的增加,20vol.% BT-Ni/PVDF復合薄膜的介電損耗和電導率分別為0.03和1×10-8S/m。
  利用共沉淀法制備BT-Fe3O4復合粉體,并在此基礎(chǔ)上利用溶液共混和熱壓成型工藝制備三明治結(jié)構(gòu)的BT-Fe3O4/PVDF復合薄膜。研究發(fā)現(xiàn),F(xiàn)e3O4納米粒子的加入,使得復合薄膜的介電常數(shù)顯著增加,然

4、而Fe3O4納米粒子也增加了電荷傳導,介電損耗和電導率也顯著增加。當加入中間PVDF層后,在略微降低介電常數(shù)的情況下,復合薄膜的介電損耗和電導率得到大幅度降低。通過計算界面活化能Ea,可以發(fā)現(xiàn)Fe3O4納米粒子的加入顯著增加了界面極化。同時,中間PVDF層有效的抑制自由電荷的傳導,顯著降低了介電損耗。此外,當電場強度為2100kV/cm時,5vol.% BT-Fe3O4/PVDF-S儲能密度達到了2.24J/cm3,儲能效率依然保持在6

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