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文檔簡介
1、近年來，隨著紅外焦平面陣列(IRFPA)技術(shù)的發(fā)展，紅外技術(shù)與系統(tǒng)在軍事和日常生產(chǎn)及生活等許多領(lǐng)域用途日益廣泛。在這種環(huán)境背景下，研制紅外焦平面陣列探測器測試系統(tǒng)是十分必要的，系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)之一就是直流偏置源的實現(xiàn)，而國內(nèi)外一直未能在此關(guān)鍵技術(shù)上有實質(zhì)性的突破。本文現(xiàn)圍繞系統(tǒng)中直接供給探測器偏置電壓的直流偏置源展開研究工作。
本文主要從以下方面開展了研究工作：
1.對紅外焦平面陣列的概念、原理做了清晰的介紹，
2、并且闡述了紅外焦平面的技術(shù)和發(fā)展現(xiàn)狀，以及國內(nèi)外在紅外焦平面陣列測試技術(shù)上的研究水平和差距。
2.詳細介紹了紅外焦平面陣列的主要性能參數(shù)，以及紅外焦平面陣列測試系統(tǒng)的測試總體需求及總體結(jié)構(gòu)，提出了直流偏置關(guān)鍵技術(shù)。
3.詳細分析了直流偏置指標對于紅外焦平面測試系統(tǒng)影響的理論分析。通過對一般電子系統(tǒng)中噪聲及焦平面陣列探測器噪聲的介紹，并結(jié)合實際工作中的測試環(huán)境及要求提出了直流偏置源的主要性能指標。從整體上對直流
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