反激式開(kāi)關(guān)電源的傳導(dǎo)和輻射發(fā)射特性研究.pdf

1、開(kāi)關(guān)電源被廣泛用于電信、軍事設(shè)備、運(yùn)輸設(shè)備等諸多領(lǐng)域。由于電子開(kāi)關(guān)速率不斷提高，其所帶來(lái)的電磁干擾（EMI）成為必須引起重視的電磁兼容問(wèn)題。由于反激式（Flyback）開(kāi)關(guān)電源通過(guò)簡(jiǎn)單的系統(tǒng)設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)降壓、升壓、升降壓的變換而日益廣泛應(yīng)用，同時(shí)也存在較為嚴(yán)重的傳導(dǎo)和輻射干擾。由于傳導(dǎo)和輻射電磁干擾符合性測(cè)試需要嚴(yán)格的測(cè)試環(huán)境和昂貴的測(cè)試設(shè)備，因此進(jìn)行開(kāi)關(guān)電源的電磁干擾的預(yù)測(cè)和評(píng)估非常必要。論文據(jù)此開(kāi)展系列研究工作，其主要工作歸納如下：<

2、br>　　首先分析了一般性傳導(dǎo)干擾的產(chǎn)生機(jī)理和傳導(dǎo)路徑。論文采用時(shí)域仿真方法來(lái)分析和預(yù)測(cè)傳導(dǎo)電磁干擾。分別采用SPICE模型和高頻等效電路模型對(duì)有源和無(wú)源器件建模，基于CST PCB工作室采用2D場(chǎng)求解器提取出印刷電路板（PCB）的寄生參數(shù)，進(jìn)而在該工作室中再完成整個(gè)電路的仿真。實(shí)驗(yàn)結(jié)果證明了該仿真方法的有效性，能快速預(yù)測(cè)和評(píng)估傳導(dǎo)電磁干擾；
　　其次研究了典型的“PCB加線(xiàn)纜”這一架構(gòu)的開(kāi)關(guān)電源模型，其中開(kāi)關(guān)管的快速開(kāi)與關(guān)所產(chǎn)生

3、的瞬時(shí)強(qiáng)電壓、電流變化（dv/dt、di/dt）是電路板上主要的對(duì)外輻射源。同時(shí)，電路板外接的線(xiàn)纜能將從板上耦合而來(lái)的能量向外輻射出去，增強(qiáng)了輻射發(fā)射電平強(qiáng)度，研究確認(rèn)了線(xiàn)纜輻射也是導(dǎo)致開(kāi)關(guān)電源電磁輻射問(wèn)題突出的原因之一?；陂_(kāi)關(guān)電源的傳導(dǎo)和輻射原理，論文提出了一種可以快速預(yù)測(cè) Flyback開(kāi)關(guān)電源輻射發(fā)射的簡(jiǎn)化模型，并通過(guò)實(shí)物加工，在電磁兼容實(shí)驗(yàn)室對(duì)一款20W的Flyback開(kāi)關(guān)電源進(jìn)行3m外輻射發(fā)射的測(cè)試，結(jié)果表明，該設(shè)計(jì)完全符合