基于國產(chǎn)平臺(tái)PCi-E多卡測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì).pdf

1、本課題是某計(jì)算機(jī)研究所專項(xiàng)科研項(xiàng)目，針對(duì)目前服務(wù)器的PCIe擴(kuò)展槽數(shù)量有限，無法完成大量PCIe采集卡測試并結(jié)合國產(chǎn)平臺(tái)（國產(chǎn)操作系統(tǒng)和CPU）開發(fā)一套測試系統(tǒng)完成PCIe采集卡多卡調(diào)度。開發(fā)的測試系統(tǒng)主要針對(duì)在一些對(duì)PCIe寬展槽要求比較多的場合，比如工廠里面檢查大量PCIe設(shè)備的時(shí)候，服務(wù)器PCIe擴(kuò)展槽數(shù)量有限缺點(diǎn)就暴露比較明顯，需要解決PCIe插槽擴(kuò)展。由于工廠里面同一款PCIe設(shè)備生產(chǎn)比較多，為了提高對(duì)設(shè)備檢查效率的效率，這就

2、要求驅(qū)動(dòng)對(duì)設(shè)備的支持完成多卡調(diào)度。
　　本課題著重這幾個(gè)方面論述首先，論文講解了國產(chǎn)操作系統(tǒng)和CPU的發(fā)展現(xiàn)狀，當(dāng)前迫切需要發(fā)展基于國產(chǎn)平臺(tái)的應(yīng)用市場。本論文依據(jù)國產(chǎn)操作平臺(tái)根據(jù)當(dāng)前的需求開發(fā)一套測試系統(tǒng)提出了系統(tǒng)的方案，并對(duì)方案的各部分關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行研究。
　　其次，介紹系統(tǒng)硬件和開發(fā)環(huán)境的搭建，在系統(tǒng)硬件部分詳細(xì)介紹了設(shè)備總體結(jié)構(gòu)，PCIe采集卡上電流程，算法FPGA模塊，F(xiàn)PGA通信模塊的設(shè)計(jì)。同時(shí)項(xiàng)目完成了開發(fā)環(huán)境的搭

3、建。
　　第三完成驅(qū)動(dòng)對(duì)多設(shè)備的支持，課題采用PCIe擴(kuò)展槽可以同時(shí)完成多款設(shè)備的同時(shí)測試，這就要求PCIe驅(qū)動(dòng)對(duì)多設(shè)備的支持.同時(shí)依據(jù)現(xiàn)有操作平臺(tái)對(duì)DMA讀寫通道性能提高，做到讀寫回環(huán)速度性能滿足課題要求。
　　第四完成測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)，測試系統(tǒng)要完成對(duì)測試界面的設(shè)計(jì)和動(dòng)態(tài)庫接口的設(shè)計(jì)以及算法接口的設(shè)計(jì)。
　　第五還要完成對(duì)整個(gè)測試系統(tǒng)的測試，主要完成對(duì)驅(qū)動(dòng)的調(diào)試和測試系統(tǒng)的調(diào)試，以及完成功能測試，功能測試主要驗(yàn)證驅(qū)動(dòng)