基于ANSYS的磁頭動態(tài)飛高裝置性能的有限元分析.pdf

1、隨著現(xiàn)代存儲技術(shù)的發(fā)展，硬盤存儲密度需進一步提高，這就使得磁頭的飛行高度要進一步降低。為了達到這一要求，動態(tài)飛行高度裝置(DFHD)應(yīng)運而生。作為一種新的結(jié)構(gòu)設(shè)計，其主要工作原理是通過電流產(chǎn)生的熱場分布轉(zhuǎn)化成結(jié)構(gòu)變形，進而降低磁頭飛行高度。
　　動態(tài)飛高裝置可以控制磁頭飛行高度，但受熱作用會對磁頭的使用壽命和對讀/寫性能的可靠性造成影響。南于其尺寸相當(dāng)小，采用傳統(tǒng)模型進行分析很難得到進行可靠性研究的相關(guān)參數(shù)，采用有限元的分析方法可

2、以解決這個難題。
　　論文介紹了硬盤基本構(gòu)造和磁頭的讀/寫工作原理，分析了動態(tài)飛高裝置對讀/寫性能的影響，利用布萊克準則進行壽命預(yù)測的方法得到結(jié)構(gòu)最容易在溫度最高和電流密度最大的部位失效。論文分析了磁頭的結(jié)構(gòu)特點，采用ANSYS有限元分析軟件，利用參數(shù)化設(shè)計語言實現(xiàn)磁頭動態(tài)飛高裝置有限元建模。設(shè)計實驗方法確定了作為熱分析邊界條件用的對流系數(shù)，對動態(tài)飛高裝置進行電-熱耦合分析，得到電流密度和溫度分布的最大值，為更準確進行壽命預(yù)測提供