面向嵌入式軟件的測(cè)試結(jié)果分析系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、本文通過(guò)對(duì)數(shù)據(jù)倉(cāng)庫(kù)技術(shù)的研究，提出將數(shù)據(jù)倉(cāng)庫(kù)技術(shù)運(yùn)用到嵌入式軟件測(cè)試結(jié)果分析中。具體而言，本文將嵌入式軟件測(cè)試結(jié)果的各類(lèi)數(shù)據(jù)作為數(shù)據(jù)源，根據(jù)決策人員對(duì)嵌入式測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)分析的需求，設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)集市模型。在此基礎(chǔ)上，從異構(gòu)數(shù)據(jù)源中抽取轉(zhuǎn)換加載數(shù)據(jù)，構(gòu)建一套適合于嵌入式軟件測(cè)試結(jié)果分析的數(shù)據(jù)倉(cāng)庫(kù)系統(tǒng)。所建立的數(shù)據(jù)倉(cāng)庫(kù)包含了嵌入式軟件測(cè)試的歷年數(shù)據(jù)，支持對(duì)軟件缺陷分類(lèi)、用例設(shè)計(jì)方法、人員能力評(píng)估等維度的多維分析，并逐步建立起對(duì)某一范圍內(nèi)的嵌入式軟

2、件缺陷的科學(xué)預(yù)測(cè)。
　　為此，本文首先對(duì)國(guó)內(nèi)外數(shù)據(jù)倉(cāng)庫(kù)的應(yīng)用現(xiàn)狀以及相關(guān)技術(shù)進(jìn)行了研究總結(jié)。尤其對(duì)數(shù)據(jù)倉(cāng)庫(kù)的相關(guān)概念、應(yīng)用特點(diǎn)以及工程上的實(shí)踐方法進(jìn)行了詳細(xì)的介紹。
　　接著，本文詳細(xì)介紹了嵌入式軟件測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)倉(cāng)庫(kù)的分析和設(shè)計(jì)過(guò)程。根據(jù)嵌入式軟件測(cè)試結(jié)果分析的實(shí)際問(wèn)題和具體需求，給出數(shù)據(jù)倉(cāng)庫(kù)的具體設(shè)計(jì)和建模方案。并對(duì)數(shù)據(jù)倉(cāng)庫(kù)實(shí)現(xiàn)過(guò)程中遇到數(shù)據(jù)抽取清洗和轉(zhuǎn)換、數(shù)據(jù)抽取任務(wù)的調(diào)度、事實(shí)表和維度表的創(chuàng)建、多維立方體的分析以及創(chuàng)建

3、等主要問(wèn)題進(jìn)行了詳細(xì)的闡述，并給出了相應(yīng)的解決方法和實(shí)施步驟。
　　然后，針對(duì)嵌入式軟件測(cè)試數(shù)據(jù)的ETL存在性能瓶頸的問(wèn)題，提出了一種基于遺傳算法的數(shù)據(jù)倉(cāng)庫(kù) ETL調(diào)度算法。該算法依據(jù) ETL任務(wù)調(diào)度的特點(diǎn)進(jìn)行改進(jìn)，通過(guò)使用有限迭代次數(shù)內(nèi)在解空間中尋找到的最優(yōu)調(diào)度方案，有效地提高了多臺(tái)處理機(jī)同時(shí)處理 ETL任務(wù)的效率，解決了系統(tǒng)運(yùn)行中ETL任務(wù)性能瓶頸的難題。
　　最后，本文根據(jù)決策人員的分析需求建立了數(shù)據(jù)立方體。對(duì)于建立過(guò)