RFID測(cè)試系統(tǒng)載波抵消技術(shù)研究.pdf

1、基于反向散射原理的超高頻射頻識(shí)別(UHF RFID)技術(shù)，其標(biāo)簽測(cè)試通常在全電波暗室中進(jìn)行。測(cè)試過(guò)程中由于收發(fā)天線空間距離較小的關(guān)系，部分射頻信號(hào)能量從發(fā)射端直接耦合到接收端。這部分功率遠(yuǎn)大于RFID標(biāo)簽反射信號(hào)功率，對(duì)調(diào)制在標(biāo)簽反射波上的信號(hào)產(chǎn)生了干擾，直接降低了有用信號(hào)質(zhì)量，給接收端的解調(diào)、檢波等帶來(lái)了困難和性能降級(jí)，影響了測(cè)試設(shè)備的靈敏度范圍，甚至使測(cè)試無(wú)法進(jìn)行。因此對(duì)收發(fā)天線載波泄漏進(jìn)行研究，分析其形成機(jī)理和特征，并采取一定的方

2、法盡可能的壓制干擾對(duì)提高測(cè)試系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性有重要意義。
　　本文首先介紹了超高頻射頻識(shí)別的技術(shù)基礎(chǔ)和特點(diǎn)，以及無(wú)源標(biāo)簽的測(cè)試方法和測(cè)試系統(tǒng)現(xiàn)狀，著重分析了基于虛擬儀器技術(shù)的RFID測(cè)試解決方案。針對(duì)測(cè)試系統(tǒng)中存在載波泄漏的情況，通過(guò)分析其形成機(jī)理，并通過(guò)理論計(jì)算和實(shí)際測(cè)量，得到了耦合載波的特性及其影響標(biāo)簽信號(hào)質(zhì)量的原因。本文提出一種射頻前端的載波抵消設(shè)計(jì)，通過(guò)采用發(fā)射波作為本地載波，調(diào)整其幅度、相位，以達(dá)到與泄漏載波形成等幅

3、、反相，經(jīng)二者疊加輸出到接收端而達(dá)到抵消泄漏載波能量的目的。通過(guò)軟硬件電路設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了一個(gè)程序控制的射頻抵消電路，以微控制器驅(qū)動(dòng)數(shù)控衰減器、移相器調(diào)整本地載波幅度、相位，以鑒幅鑒相器分辨本地載波與泄漏載波的幅度差、相位差，并將結(jié)果返回微控制器，以這種閉環(huán)結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)自適應(yīng)的載波抵消電路。通過(guò)在模塊電路調(diào)試中發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題及解決，分析了影響電路性能的原因，根據(jù)實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)加入補(bǔ)償參數(shù)，獲得了較好的載波抵消效果。通過(guò)對(duì)比分析載波抵消應(yīng)用前后的測(cè)試結(jié)果，實(shí)