薄介質(zhì)載體共形天線陣列的分析與研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、共形天線及其陣列是現(xiàn)代天線設(shè)計(jì)中的主要研究方向之一，因?yàn)樵诤娇蘸教旒跋嚓P(guān)領(lǐng)域?qū)μ炀€多提出共形的要求。這不僅因?yàn)楣残翁炀€改善了空氣動力特性，還因?yàn)楣残翁炀€有許多優(yōu)越的性能吸引著設(shè)計(jì)者。但是目前對共形天線的研究多基于金屬載體，對于介質(zhì)載體上共形天線的研究還不成熟。介質(zhì)載體上的源分布要比金屬載體復(fù)雜，未知量也更大，這給介質(zhì)載體共形天線的分析帶來了困難。因此本文主要針對薄介質(zhì)載上共形天線及陣列的分析方法進(jìn)行研究。
　　本文針對問題規(guī)模的不

2、同，采用不同的方法來解決共形天線的分析問題。論文主要內(nèi)容概括如下：
　　首先，簡要總結(jié)了共形天線的分析方法，并以VSIE為例介紹了MOM的基本分析過程。同時(shí)研究了同軸、微帶線、共面波導(dǎo)等常用天線激勵形式的Delta電壓源建模。
　　其次，詳細(xì)推導(dǎo)了PEC-TDS表面積分方程，并說明了數(shù)值計(jì)算中涉及的關(guān)鍵問題。對于薄介質(zhì)載體共形天線的分析，PEC-TDS方法在減小未知量的同時(shí)，可以取得與VSIE相近的計(jì)算精度。天線輸入阻抗的準(zhǔn)

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