X射線吸收光譜測量系統(tǒng)研究.pdf

1、X射線技術(shù)近些年得到了快速發(fā)展，被廣泛應(yīng)用于物質(zhì)檢測和識別，尤其是公共場所違禁物品的檢測。目前應(yīng)用的主要技術(shù)有單能量X射線技術(shù)、多視角X射線技術(shù)、雙能量X射線技術(shù)、計算機斷層成像技術(shù)以及X射線散射技術(shù)等。這幾種技術(shù)大部分最后都是通過成像的方式來進行物質(zhì)識別，其中雙能量X射線成像技術(shù)利用待檢測物質(zhì)對兩種能量的X射線吸收的程度不同，測得物質(zhì)的有效原子序數(shù)，從而達到物質(zhì)識別的目的。本論文研究主要基于物質(zhì)對X射線的吸收作用機理，主要研究內(nèi)容包括

2、以下部分:
　　首先，研究了當前主要的物質(zhì)識別方法，對其進行了介紹，并且將其優(yōu)缺點進行了詳細對比。
　　其次，研究了組織光學(xué)近些年的發(fā)展，了解到紅外的穿透能力有限是制約組織光學(xué)發(fā)展的一個重要因素，而良好的穿透能力恰好又是X射線的優(yōu)勢，因此決定將組織光學(xué)的分析方法推廣到X射線物質(zhì)識別領(lǐng)域。
　　然后，仔細研究了目前X射線吸收精細結(jié)構(gòu)光譜的理論以及發(fā)展。同時為了進行X射線吸收光譜物質(zhì)檢測，實驗室研制了一臺X射線吸收光譜檢測