TD-LTE基站衰落自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與測(cè)試.pdf

1、第二代和第三代移動(dòng)通信技術(shù)已經(jīng)深入到人們的生活、辦公、娛樂各個(gè)方面,作為第四代移動(dòng)通信技術(shù)的LTE基站的質(zhì)量和可靠性也越來越受到關(guān)注,尤其是 TD-LTE基站的衰落性能。由于TD-LTE基站具有測(cè)試任務(wù)多,硬件接口比較多、需求變化快、使用環(huán)境多樣和多測(cè)試終端等不確定等特點(diǎn),測(cè)試工程師傳統(tǒng)的手動(dòng)測(cè)試技術(shù)和方法已無法適應(yīng)TD-LTE基站衰落性測(cè)試的挑戰(zhàn),不能對(duì)TD-LTE基站衰落性測(cè)試進(jìn)行作業(yè)流程的管理,無法滿足基站衰落性測(cè)試的需要。

2、>　　上海貝爾公司開發(fā)和提供的測(cè)試平臺(tái) EASYTEST是一個(gè)通用工具,提供了UMTS和LTE集成測(cè)試自動(dòng)化解決方案。EASYTEST測(cè)試平臺(tái)在TD-LTE基站基本功能測(cè)試中得到了廣泛應(yīng)用,但是對(duì)TD-LTE的基站衰落自動(dòng)化測(cè)試還處于探索階段,衰落自動(dòng)化測(cè)試的需求尚未統(tǒng)一。如何建立和完善一個(gè)能夠有效自動(dòng)化的TD-LTE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),是TD-LTE基站衰落性測(cè)試急需解決的一個(gè)問題。
　　本文基于TD-LTE基站衰落原理和EASYT

3、EST技術(shù),設(shè)計(jì)了一個(gè)基于TD-LTE基站衰落自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。首先本文對(duì)TD-LTE基站衰落自動(dòng)化測(cè)試的需求進(jìn)行了分析,總結(jié)了當(dāng)前問題,接著通過用例圖、流程圖等方法著重分析了UE自動(dòng)介入、App server發(fā)數(shù)據(jù)包、選擇衰落信道模型、獲取海斯UE log、轉(zhuǎn)換海斯UE log成csv文件、上傳UE log的csv文件到log server、導(dǎo)入數(shù)據(jù)庫(kù)以及重啟基站的功能的業(yè)務(wù)流程和需求。接著,詳細(xì)闡述了TD-LTE基站衰落自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)

4、的系統(tǒng)架構(gòu);然后對(duì)衰落自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)最主要的三個(gè)子系統(tǒng)(下行衰落自動(dòng)化測(cè)試子系統(tǒng)、上行衰落自動(dòng)化測(cè)試子系統(tǒng)、上下行全衰落自動(dòng)化測(cè)試子系統(tǒng))進(jìn)行了設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)。此外,本文詳細(xì)描述了啟動(dòng)衰落模型子系統(tǒng),上行、下行獲取UE的log方式的方式,轉(zhuǎn)換上行、下行的UE log到csv文件的功能,以及全衰落測(cè)試中建立專有承載等關(guān)鍵技術(shù)的實(shí)現(xiàn)方法。結(jié)合實(shí)際測(cè)試任務(wù),本文設(shè)計(jì)了功能測(cè)試、關(guān)鍵功能測(cè)試、系統(tǒng)整合測(cè)試的測(cè)試用例,針對(duì)系統(tǒng)整合測(cè)試中出現(xiàn)的問題,進(jìn)