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文檔簡介
1、綜合孔徑輻射計(jì)采用射電天文領(lǐng)域的孔徑綜合技術(shù),提高微波輻射計(jì)的分辨率。然而,綜合孔徑微波輻射計(jì)分辨率的提高是在不斷擴(kuò)大天線陣列的基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)的,龐大的天線陣列增加了綜合孔徑微波輻射計(jì)系統(tǒng)的復(fù)雜度,由該系統(tǒng)產(chǎn)生的巨量數(shù)據(jù)需要更復(fù)雜的信號(hào)處理結(jié)構(gòu)。本文研究的超綜合孔徑微波輻射成像方法旨在利用較小的天線陣列實(shí)現(xiàn)微波輻射計(jì)的高分辨率,達(dá)到降低微波輻射計(jì)系統(tǒng)復(fù)雜度的目的。
本文從成像原理、成像性能等方面對一維與二維超綜合孔徑進(jìn)行了全面地闡
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