基于DOE的光子晶體光纖與單模光纖的熔接技術(shù)研究.pdf

1、隨著光子晶體光纖(PCF)迅速發(fā)展，為了使光子晶體光纖應(yīng)用于傳統(tǒng)光學(xué)系統(tǒng)中，光子晶體光纖和普通單模單模光纖(SMF)的熔接逐漸成為了熱點。因為若是依靠機械支架直接耦合的話，也可以達到低損耗，但是這只能適用于實驗室環(huán)境，并不能廣泛的應(yīng)用于戶外環(huán)境中，且可靠性不高，而采用熔接的方式就可以避免這些問題。然而由于光子晶體光纖所獨有的包層空氣孔結(jié)構(gòu)，使其很難實現(xiàn)與普通單模光纖的熔接。本論文主要是使用電弧放電方式通過改變?nèi)劢訖C的熔接參數(shù)來減小光子晶

2、體光纖與普通單模光纖的熔接損耗，提高熔接質(zhì)量。但是我們知道，熔接機中需要設(shè)定很多的熔接參數(shù)，而這大量的參數(shù)，以及他們之間的交互作用，使得這項工作變得異常沉悶。因此本論文提出了一種不同于以往的試驗方法，我們以普通熔接機的參數(shù)為變化因子，以熔接點的質(zhì)量為響應(yīng)來設(shè)計正交試驗來實現(xiàn)光子晶體光纖與普通單模光纖的低損耗熔接。
　　本論文主要是分別對模場匹配和模場不匹配這兩種光子晶體光纖與單模光纖進行正交試驗設(shè)計，并根據(jù)統(tǒng)計方法分析試驗數(shù)據(jù)，最