發(fā)射極開關晶閘管(EST)的仿真與研究.pdf

1、電能的合理分配和利用對建設環(huán)保節(jié)約型社會越來越重要。電能的轉換利用離不開電力電子技術。功率器件作為該技術的核心部件每次的推陳出新，都帶動著電力電子技術的進步。
　　本文研究的EST(Emitter Switched Thyristor)正是在IGBT（Insulated Gate Bipolar Transistor)的基礎上提出來的一種新型功率器件。眾所周知IGBT是MOS控制的晶體管結構，在其內部寄生的晶閘管未達到閂鎖之前，基

2、區(qū)由于雙極性器件的電導調制效應，相同電流密度情況下，導通壓降較同等摻雜水平的VDMOS器件降低了很多。然而在高壓大電流的應用中，IGBT的導通電阻仍然較大，電流密度也會因此受到限制。晶閘管導通后具有很大的電流密度，低的導通壓降較晶體管會有更好的正向導通特性。EST正是利用了晶閘管開啟過程中的優(yōu)良特性同時利用MOSFET對其導通后的特性加以控制。因此與IGBT比較而言，EST導通電阻更低，且由于MOSFET的引入其導通電流具有飽和特性，這

3、是MOS控制型晶閘管（MCT）所不具備的。目前針對EST的研究還比較少，本文從晶閘管入手，逐步探討關于EST及其改進器件的特性。主要內容為：
　　1.在MATLAB中對碰撞電離積分與PN結外加反向電壓的關系運用曲線擬合，得到了與MEDICI仿真結果更為吻合的Miller關系式。同時給出了摻雜濃度與Miller公式中的S參數(shù)的經驗表達式。這對EST的阻斷狀態(tài)下的耐壓設計有一定的借鑒意義。
　　2.晶閘管特性的研究，主要內容包括

4、：阻斷狀態(tài)和轉折之后內部載流子的變化、電離率積分隨外加電壓的變化等。并應用MATLAB對其進行理論上的計算，得到其耐壓的原因。EST正是對晶閘管的開啟關斷進行控制，因此晶閘管的研究是EST研究的基礎。
　　3.使用MEDICI軟件定義EST器件結構，對其載流子分布、閾值電壓、擊穿電壓、動態(tài)特性等進行仿真，提出了EST正向工作時的四個區(qū)域，并對不同區(qū)域進行解析分析，進而對其開關特性進行了仿真研究。
　　4.對ESTD(Emit