基于散斑計量的材料內(nèi)部缺陷檢測及物體形貌測量.pdf

1、散斑計量技術(shù)作為一種光學(xué)測量技術(shù)，由于其具有非接觸、高精度、實時全場測量等特性，被廣泛應(yīng)用在許多領(lǐng)域。本文主要考慮散斑計量技術(shù)在無損檢測及形貌檢測中的應(yīng)用，針對在無損檢測及形貌檢測中的存在的一些問題進(jìn)行相關(guān)研究，并在此基礎(chǔ)上提出相應(yīng)的解決方法。
　　針對散斑計量技術(shù)在無損檢測應(yīng)用中常常會遇到一些深層缺陷不能被直接識別這一問題，提出可以通過測量含缺陷材料離面變形的二階導(dǎo)數(shù)來識別該類缺陷的方法。為了證明該方法的正確性，利用理論推導(dǎo)、數(shù)

2、值仿真及實驗三個方面對該方法進(jìn)行了驗證。結(jié)果表明該方法能夠很好的識別出較深層缺陷的存在。同時，本文對剪切量在數(shù)字散斑干涉法進(jìn)行缺陷檢測中的影響進(jìn)行了研究。
　　缺陷的深度測量也是很缺陷檢測中重要的一個部分，也是最為復(fù)雜的部分。以往的缺陷深度檢測中往往是依據(jù)經(jīng)驗或者簡單的計算來獲得缺陷的大致深度，這樣往往會導(dǎo)致與實際的深度有較大偏差。針對這種情況，本文利用基本薄板撓度公式結(jié)合方程組求解，找到一種新的測量深度的方法。結(jié)果表明較之以往的