針對(duì)磁盤陣列的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、在信息技術(shù)風(fēng)起云涌的今天，存儲(chǔ)服務(wù)器是保證信息安全最重要的手段，能提供普通電腦磁盤無(wú)法提供的數(shù)據(jù)冗余等更多高級(jí)功能。其中數(shù)據(jù)冗余這一核心功能，是由磁盤陣列（RAID）來(lái)提供的。
　　磁盤陣列產(chǎn)品的物理組成復(fù)雜、軟件功能較多，代碼量巨大。因此，針對(duì)它的測(cè)試用例數(shù)量多、測(cè)試工作量及測(cè)試難度都較大。再加上企業(yè)的測(cè)試資源有限、激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)要求最大限度地縮短產(chǎn)品周期等因素，如何對(duì)磁盤陣列進(jìn)行高效、高質(zhì)量的測(cè)試，成為目前很多企業(yè)面臨的重大挑

2、戰(zhàn)。
　　論文通過(guò)對(duì)磁盤陣列測(cè)試的詳細(xì)分析，結(jié)合軟件測(cè)試?yán)碚?，提出了針?duì)磁盤陣列的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，包括自動(dòng)化測(cè)試框架公用函數(shù)庫(kù)、測(cè)試用例參數(shù)化自動(dòng)測(cè)試框架和自動(dòng)化測(cè)試執(zhí)行框架，從而有效提高測(cè)試質(zhì)量及效率，縮短測(cè)試周期。
　　論文主要開展以下工作：（1）根據(jù)軟件測(cè)試的理論，針對(duì)磁盤陣列產(chǎn)品，深入探討手工測(cè)試與自動(dòng)化測(cè)試的各自優(yōu)勢(shì)和局限性，研究自動(dòng)化測(cè)試與手工測(cè)試哪種測(cè)試方式更加適合磁盤陣列測(cè)試；（2）對(duì)磁盤陣列的硬件架構(gòu)、軟件

3、架構(gòu)與軟件功能進(jìn)行分析與研究，根據(jù)測(cè)試用例使用的接口與工具，實(shí)現(xiàn)為自動(dòng)化測(cè)試用例編寫提供公用函數(shù)庫(kù)，從而提高效率；（3）在測(cè)試用例自動(dòng)化實(shí)現(xiàn)方面，對(duì)磁盤陣列測(cè)試用例的步驟、方法與流程進(jìn)行分析與歸納，提出一種統(tǒng)一的自動(dòng)化測(cè)試用例框架，通過(guò)參數(shù)定義測(cè)試用例。（4）通過(guò)實(shí)現(xiàn)多個(gè)測(cè)試用例自動(dòng)執(zhí)行，提高測(cè)試環(huán)境的使用效率和測(cè)試用例執(zhí)行速度，減少測(cè)試環(huán)境的需求，從而縮短軟件測(cè)試周期。（5）最后選取一定的測(cè)試用例，對(duì)磁盤陣列自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行驗(yàn)證。測(cè)