WDM光網絡中基于副載波的光性能監(jiān)測技術研究.pdf

1、過去十年里，光傳輸使得骨干網絡的數據流量快速增長，而能夠傳輸大量信道的DWDM技術使數據流量進一步增加。光性能監(jiān)測(OPM)對于管理這樣一個大容量的光傳輸和交換系統(tǒng)是至關重要的。未來的光傳輸網絡將是動態(tài)可重構的，并具備超長距離通信和光交換功能，更增加了管理這樣一個透明傳輸網絡的復雜度，由此激發(fā)了人們對光性能監(jiān)測技術研究的興趣，并將OPM聚焦為下一代光網絡的使能技術之一。 關于實現光性能監(jiān)測的技術有很多種，包括光譜分析法、直方圖法

2、、Q因子法、副載波復用法等。本文主要研究副載波復用光性能監(jiān)測技術。該技術相對于其他技術具有易于實現、成本效益高、能實現多種參數監(jiān)測等優(yōu)點，而且非常適合在光網絡節(jié)點(OADM、OXC)采用。本文對該技術的工作原理、典型應用進行了綜述，并分析了該技術的潛在局限性以及可量測性。 以往的研究主要集中于單個副載波復用監(jiān)測技術的研究，如何復用多個副載波對光性能進行監(jiān)測，鮮有這方面的文獻報道。復用多個副載波進行監(jiān)測可以實現多種監(jiān)測功能的組合，

3、提高監(jiān)測的靈活性。然而采用多副載波復用提高監(jiān)測能力的同時，必然會給光信號的傳輸質量帶來更多的損傷，同時光纖的非線性等因素也會對多副載波監(jiān)測產生更大的干擾，影響監(jiān)測效果。正確認識這種相互影響的程度將對研究多副載波復用監(jiān)測技術有指導作用，這正是本論文研究的目標。 副載波復用首先會對光接收機的Q因子或誤碼率直接造成影響。本文由傳統(tǒng)的光接收機模型出發(fā)，提出了一種新的分析方法，將副載波替代成一種正弦分布的隨機變量進行處理，并將其標準方差應

4、用到Q因子推導中，最終得到接收機的最佳判決電流和相應Q因子的解析函數式，進而可求出誤碼率。接著又推廣到多個副載波的情況。然后用該方法分析了接收機的誤碼率和Q因子與調制系數、輸入光信噪比、副載波數量的關系，并與已有理論進行了對比分析，驗證了本文提出的理論模型的有效性。由于本文提出的方法中Q因子與其他參數為單值映射關系，因而在計算上更加方便、直接。 光網絡中摻鉺光纖放大器的交叉增益調制(XGM)效應和光纖的受激喇曼散射(SKS)效應

5、會在實際副載波附近產生虛假副載波，對監(jiān)測技術造成干擾，嚴重時將造成錯誤判斷，擾亂網絡管理。這種影響在復用多個副載波時將會更加明顯。XGM效應可以通過對EDFA進行自動增益控制或提高副載波頻率得到改善，但僅僅提高副載波的頻率并不能減小SRS效應的影響。為了分析SRS效應對多副載波監(jiān)測技術的影響，我們以雙副載波監(jiān)測WDM光通路為例，進行了初步探討。我們首先提出雙副載波引起光功率脈動的時域理論模型，然后對其進行FFT變換，從頻域角度研究了在S