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文檔簡介
1、大量試驗研究證明,溫度發(fā)生變化的同時,半導體器件的本構參數(shù)矩陣也會發(fā)生變化,從而改變電路原有的電磁場分布特性。電路和器件的小型化和集成化以及半導體器件的廣泛運用,導致電路中的能耗密度進一步增大,溫度增高,而高溫會嚴重影響電路和器件運行的可靠性,從而對電磁兼容與防護提出了新的要求。
由于器件溫度會隨時間改變,難以進行試驗測量,本文提出一種基于多物理場耦合的時域有限差分算法,建立熱場與電磁場的有限差分法和時域有限差分法(FDM-F
2、DTD)一體化模型。即,使用有限差分法(FDM)實時計算目標體的熱傳導,使用時域有限差分法(FDTD)計算電磁波與目標體的相互作用。由于熱場與電磁場的傳播速度相差108倍,時間尺度相差很大,傳統(tǒng)FDM-FDTD法在計算熱場和電磁場時是單獨進行循環(huán)迭代,本文使用時間尺度統(tǒng)一算法,將熱場與電磁場的迭代同步,極大縮短了計算時間?;谠撃P?,本文對半導體器件中不同材料元件的熱傳導特性進行了分析,數(shù)值試驗表明,溫度的分布通常是非均勻的,導致目標體
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