大視場光電準(zhǔn)直儀的準(zhǔn)直測量精度研究.pdf

1、自準(zhǔn)直測角技術(shù)作為一種幾何量測量方法，是利用光學(xué)自準(zhǔn)直原理來實現(xiàn)高精度小角度測量或可轉(zhuǎn)換為小角度測量的技術(shù)，基于這項技術(shù)的光學(xué)儀器稱之為自準(zhǔn)直儀。自準(zhǔn)直儀按照測量結(jié)果輸出方式不同，分為光學(xué)自準(zhǔn)直儀和光電自準(zhǔn)直儀兩大類。在自準(zhǔn)直儀系列中，作為新一代的光電自準(zhǔn)直儀已經(jīng)廣泛地用于小角度測量、高精度角度標(biāo)校、導(dǎo)軌的平直度、精密平臺的平面度、轉(zhuǎn)臺位置不確定度等測量領(lǐng)域。然而現(xiàn)有的光電自準(zhǔn)直儀存在著測量范圍小、精度低的缺點，滿足不了現(xiàn)代社會的需求。

2、因此增大準(zhǔn)直視場與提高自準(zhǔn)直儀測量精度是先進(jìn)自準(zhǔn)直儀的主要發(fā)展方向，有著現(xiàn)實意義。
　　 本文主要致力于提高光電自準(zhǔn)直儀的準(zhǔn)直測量范圍，以及在大視場、小口徑的光學(xué)系統(tǒng)中如何保證準(zhǔn)直測量精度。具體的是以大視場光電自準(zhǔn)直儀研制過程為主線，將光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計作為重點，致力于提高有限的口徑條件下光電自準(zhǔn)直儀的準(zhǔn)直測量視場，即準(zhǔn)直測量范圍。并且在此基礎(chǔ)上，進(jìn)一步探索影響準(zhǔn)直測量精度的關(guān)鍵技術(shù)(光學(xué)系統(tǒng)的光源設(shè)計、分光棱鏡設(shè)計和抗雜散光干擾分析

3、，以及測量軟件算法等)，以及光學(xué)裝調(diào)技術(shù)對測量精度的影響，用于提高自準(zhǔn)直儀的大測量范圍下的測量精度。目前取得的進(jìn)展主要有：
　　 首先，在調(diào)研國內(nèi)外相關(guān)產(chǎn)品技術(shù)的光學(xué)結(jié)構(gòu)基礎(chǔ)上，通過充分論證，選擇并確定大視場光電自準(zhǔn)直儀的光學(xué)結(jié)構(gòu)形式。重點突出了光學(xué)主要參數(shù)的確定依據(jù)和參數(shù)計算。
　　 其次，將影響大視場準(zhǔn)直測量精度的因素作為研究的關(guān)鍵技術(shù)，在光學(xué)系統(tǒng)的光源設(shè)計、分光棱鏡設(shè)計和抗雜散光干擾分析，以及測量軟件算法等方面進(jìn)行