紅外焦平面器件性能檢測(cè)與特征分析研究.pdf

1、自近代軍事發(fā)展以來，紅外成像技術(shù)就一直是軍事應(yīng)用技術(shù)中的開發(fā)熱點(diǎn)，被深度的關(guān)注、研究及廣泛的應(yīng)用著。近些年來，隨著紅外技術(shù)的不斷改進(jìn)和成熟，其應(yīng)用的覆蓋面也全面的擴(kuò)大到了民用和其他科技研究領(lǐng)域，與此同時(shí)，紅外成像系統(tǒng)的性能測(cè)試和綜合評(píng)價(jià)，特別是針對(duì)系統(tǒng)核心紅外焦平面陣列探測(cè)器的性能測(cè)試和分析研究，便被賦予了更高的要求。本文將圍繞紅外焦平面的檢測(cè)技術(shù)和紅外焦平面的性能檢測(cè)分析展開研究工作。
　　主要研究工作如下：
　　1、針對(duì)

2、紅外成像技術(shù)以及紅外焦平面陣列探測(cè)器展開了詳盡的原理及發(fā)展背景研究和討論，通過與國外技術(shù)的對(duì)比參照，提出了傳統(tǒng)檢測(cè)技術(shù)的在實(shí)際測(cè)試應(yīng)用中沒有考慮到的問題。
　　2、詳細(xì)解析了傳統(tǒng)的紅外焦平面器件的測(cè)試原理和參數(shù)指標(biāo)，分析了影響器件性能的主要測(cè)試指標(biāo)。提出了傳統(tǒng)檢測(cè)技術(shù)缺乏對(duì)器件響應(yīng)特征和數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)特征的分析。說明了研究統(tǒng)計(jì)特征和響應(yīng)特征的意義。
　　3、基于以上對(duì)紅外焦平面器件及整個(gè)紅外成像系統(tǒng)的分析和研究，本文提出了紅外焦平