直流正極性下導(dǎo)線電暈放電特性及影響因素的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、重慶大學(xué)碩士學(xué)位論文直流正極性下導(dǎo)線電暈放電特性及影響因素的研究姓名：林銳申請學(xué)位級別：碩士專業(yè)：電氣工程指導(dǎo)教師：蔣興良20090521重慶大學(xué)碩士學(xué)位論文中文摘要密度降低導(dǎo)致電離層厚度增大、濕度升高引起光子吸收系數(shù)增大及高場強(qiáng)區(qū)域內(nèi)碰撞電離能力增強(qiáng)。絞線電暈起始電壓隨外徑增大而升高并逐漸呈現(xiàn)出飽和趨勢。絞線最外層股數(shù)愈多、每股鋁絞線愈細(xì)，電暈起始特性愈接近光滑導(dǎo)線。同等條件下，絞線電暈起始電壓低于光滑銅管，這是因為絞線表面場強(qiáng)分布與

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