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文檔簡介
1、人體在日常生活中通過接觸、感應(yīng)、吸附而帶電。當(dāng)帶電的人手碰觸電子元器件或者集成電路(IC)時，人體的靜電得以釋放，其產(chǎn)生的高壓脈沖信號可造成電子系統(tǒng)的永久性失效。特別是在集成電路(IC)領(lǐng)域，由于器件的特征尺寸的持續(xù)減小，使器件本身的柵極耐壓減小，而外界的靜電積累卻沒有減少。所以ESD的影響顯得更加突出。研究ESD放電模型，設(shè)計符合實際情況的靜電放電發(fā)生器對深入了解放電機(jī)理、測試半導(dǎo)體電子產(chǎn)品抗ESD能力以及提出器件和芯片的ESD保護(hù)方
2、法具有重要的意義。
本文依據(jù)IEEE有關(guān)ESD測試的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，利用常見的電子元器件設(shè)計并制做了用于ESD測試的高壓脈沖發(fā)生器。本文的核心工作是利用ALTERA公司CPLD器件作為核心控制單元、一體式行回掃變壓器作為直流高壓源、串聯(lián)SCR作為高壓開關(guān)設(shè)計并制作了一種新型的ESD靜電脈沖發(fā)生器。測試結(jié)果表明，這種電壓發(fā)生器可以最高產(chǎn)生8kV的電壓脈沖，整個放電脈沖周期為150ns左右，脈沖上升時間為10-20ns，符合IEEE
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