2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、隨著嵌入式系統(tǒng)技術(shù)的快速發(fā)展,其應(yīng)用越來越廣泛,功能越來越復(fù)雜,硬件集成度越來越龐大。由于嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)的專有性,目前沒有一個(gè)通用的用于嵌入式硬件系統(tǒng)測(cè)試的平臺(tái)。為支持板上芯片或邏輯的測(cè)試,聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)小組專門設(shè)計(jì)和定義了一種通用的芯片邊界掃描結(jié)構(gòu)及其測(cè)試訪問端口規(guī)范,稱為JTAG標(biāo)準(zhǔn)。但目前JTAG測(cè)試多在電路板一級(jí)對(duì)芯片或板上邏輯與連接進(jìn)行測(cè)試、復(fù)位和系統(tǒng)調(diào)試,而對(duì)整個(gè)硬件系統(tǒng)的功能性并無太多關(guān)注。論文所要設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)的測(cè)試平臺(tái)就是為

2、測(cè)試嵌入式系統(tǒng)硬件功能性而提出的。
   論文以JTAG為基礎(chǔ),以地震數(shù)據(jù)采集站硬件板為測(cè)試項(xiàng)目,設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了基于JTAG的嵌入式系統(tǒng)硬件測(cè)試平臺(tái)。其主要組件包括JTAG接口構(gòu)造、各硬件器件(ARM、單片機(jī)、SRAM、FPGA等)功能測(cè)試、串口驅(qū)動(dòng)、顯示與控制程序等。測(cè)試時(shí)通過在線仿真器連接該測(cè)試平臺(tái)與被測(cè)嵌入式系統(tǒng)硬件,可以在屏蔽軟件影響(不加載操作系統(tǒng),不加載嵌入式應(yīng)用軟件)的情況下直接對(duì)各被測(cè)器件進(jìn)行測(cè)試,最大限度地過濾干

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