2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
已閱讀1頁,還剩78頁未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

1、隨著信息技術(shù)的高速發(fā)展,電子產(chǎn)品也向輕,薄,微小化不斷發(fā)展,其對(duì)PCB板加工的關(guān)鍵設(shè)備—PCB數(shù)控鉆床提出了更高的要求,而以往使用人工判斷斷鉆和激光斷鉆檢測(cè)系統(tǒng)已經(jīng)不能滿足現(xiàn)在對(duì)鉆床性能和市場(chǎng)的需求。所以針對(duì)現(xiàn)在的數(shù)控鉆床狀況,重點(diǎn)對(duì)接觸式斷鉆檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行了研究,借助于計(jì)算機(jī)和相應(yīng)的軟件系統(tǒng),設(shè)計(jì)了基于被動(dòng)式斷鉆檢測(cè)電路和主動(dòng)式斷鉆檢測(cè)電路的接觸式斷鉆檢測(cè)系統(tǒng)。
  接觸式斷鉆檢測(cè)系統(tǒng)是由接觸式斷鉆檢測(cè)電路板與PCI-IO板卡組成

2、。接觸式斷鉆檢測(cè)電路板通過判斷鉆頭與待加工PCB板接觸與否的信號(hào)來判斷斷鉆,根據(jù)不同的原理,設(shè)計(jì)了基于測(cè)試主軸上信號(hào)變化的被動(dòng)式接觸斷鉆檢測(cè)電路板,以及基于由自己主動(dòng)產(chǎn)生信號(hào),并通過檢測(cè)電路來檢測(cè)此信號(hào)有無的主動(dòng)式接觸斷鉆檢測(cè)電路板。因?yàn)闄z測(cè)電路板還需要計(jì)算機(jī)送來的鉆頭狀態(tài)信號(hào)(CBD-Set),以及送到計(jì)算機(jī)上的斷鉆判斷信號(hào)(BTD),這些需要通過PCI-IO板卡來實(shí)現(xiàn)。
  PCI-IO板卡實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)與數(shù)控鉆床之間的通信,通信

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

最新文檔

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論