電子子系統(tǒng)的FMEA研究與實現(xiàn).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著電子系統(tǒng)的功能與結(jié)構(gòu)變得日益復雜，F(xiàn)MEA已經(jīng)成為了評估電子系統(tǒng)可靠性的一種重要方法。FMEA在應(yīng)用于電子系統(tǒng)過程中主要有以下兩個問題：一是失效模式的發(fā)生頻度評估困難以及不準確；二是由于它是一種單因素分析方法，而很難應(yīng)用于電子系統(tǒng)的系統(tǒng)層。
　　針對第一個問題，本文采用了基于失效物理方法的失效率預計結(jié)果。失效物理方法主要是通過分析電子元器件在各環(huán)境應(yīng)力下發(fā)生失效的內(nèi)在機理來進行可靠性預計，因此可以準確評估出電子元器件失效率，再

2、根據(jù)標準和經(jīng)驗分別評估出失效模式頻數(shù)比和影響概率，從而達到了準確評估電子元器件失效模式的發(fā)生頻度的目的。
　　針對第二個問題，本文通過分析電子系統(tǒng)各約定層次不同失效模式之間的關(guān)系，建立了系統(tǒng)各約定層次間的失效模式關(guān)系圖，以及各失效模式的故障樹，再利用FTA知識就可以快速準確評估出各失效模式的發(fā)生頻度以及嚴酷度，從而最終實現(xiàn)了電子系統(tǒng)的系統(tǒng)層FMEA。
　　最后，論文對以上研究的FMEA理論進行了軟件實現(xiàn)。該軟件能夠識讀電子系

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