非球面光學(xué)系統(tǒng)測試裝校若干技術(shù)研究.pdf

1、隨著非球面光學(xué)系統(tǒng)的大量應(yīng)用，光學(xué)遙感器在成像性能方面得到了很大的提高，但非球面光學(xué)系統(tǒng)由于其自身特點，相對于傳統(tǒng)的球面光學(xué)系統(tǒng)，在光學(xué)設(shè)計、加工、測試、裝校等方面的技術(shù)難度均有了很大的跨越。
　　本文根據(jù)目前非球面光學(xué)系統(tǒng)測試、裝校的難點，從光學(xué)系統(tǒng)公差分析、光學(xué)零件支撐卸載、像質(zhì)預(yù)估、幾何參數(shù)特性測試、精確測量調(diào)整等幾個方面進(jìn)行了研究，以提升非球面光學(xué)系統(tǒng)在實際裝校中的可行性，滿足在現(xiàn)有測試設(shè)備及工藝技術(shù)條件下，以合理的公差分

2、配降低裝校難度。同時通過對光學(xué)零件自身結(jié)構(gòu)、支撐卸載形式分析，達(dá)到在有效減少自身重量的條件下，保證光學(xué)零件具備足夠的剛度，并為機械結(jié)構(gòu)提供有效的接口關(guān)系。綜合像質(zhì)預(yù)估、幾何參數(shù)測試、精確測量調(diào)整技術(shù)，解決非球面光學(xué)系統(tǒng)的過程控制問題，提高測試裝校效率。
　　通過前期的基本原理及仿真分析，形成技術(shù)方案，并進(jìn)行了試驗驗證。結(jié)果表明，對于非球面光學(xué)系統(tǒng)測試、裝校的幾個關(guān)鍵環(huán)節(jié)，本文所采用的技術(shù)方案均能在一定程度上提高非球面光學(xué)系統(tǒng)測試、