基于雙魔T和雙晶體檢波器的多狀態(tài)反射計的研究.pdf

1、山東大學(xué)碩士學(xué)位論文基于雙魔T和雙晶體檢波器的多狀態(tài)反射計的研究姓名：史曉新申請學(xué)位級別：碩士專業(yè)：無線電物理指導(dǎo)教師：劉立國20050426山東大學(xué)碩士學(xué)位論文中文摘要微波測量技術(shù)的發(fā)展與微波儀器的發(fā)展息息相關(guān)，而高精度和快捷的微波測量往往依賴于精密儀器的研制與開發(fā)六端口測量技術(shù)，是基于功率計的一種能夠準確鍘量微波元件復(fù)反射系數(shù)等微波參數(shù)的有效方法；同時能夠廣泛地應(yīng)用到諸如微波計量、安全檢測和工業(yè)檢測等許多領(lǐng)域因此，六端口測量技術(shù)，從

2、提出以來一直受到各國科研人員的關(guān)注，成為最重要的微波測量工具之一從廣泛的意義上講，基于六端口基本原理，研制雙魔T多狀態(tài)反射計，并配以計算機和接口電路來實現(xiàn)數(shù)據(jù)的自動采集與處理，能夠?qū)崿F(xiàn)微波元器件的復(fù)反射系數(shù)等相關(guān)微波參數(shù)的自動測量或半自動測量具有一定的使用價值和實際意義本文的前三章闡述了六端口測量技術(shù)的現(xiàn)實意義、當前國內(nèi)外的研究現(xiàn)狀、本文所傲的工作、所用到的數(shù)學(xué)知識和該技術(shù)的基本原理及概況第四章闡述了晶體檢波器的定標方法，在小信號時本文

3、對檢波電壓幅值直接作為功率值、功率衰減定標法和直接定標法三種方法進行實際測量和分析比較，認為在小信號時將檢波電壓幅值直接作為功率值引起的誤差范圍是可接受的，同時指出了直接定杯法是較理想的適用于晶體檢波器的定標方法第五章和第六章闡述了多狀態(tài)反射計的設(shè)計方案，系統(tǒng)校準方法和實際測試結(jié)果：對于多狀態(tài)反射計的設(shè)計方案，本文詳細地闡述了各個部分的組成及相應(yīng)的電路設(shè)計在第六章，本文基于六端口理論中的絕對功率法和相對功率法演繹出適合多狀態(tài)反射計的絕對