晶振測(cè)量卡PCI接口與測(cè)試軟件設(shè)計(jì).pdf_第1頁(yè)
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1、石英晶體振蕩器作為基準(zhǔn)時(shí)鐘源廣泛應(yīng)用于各種模擬和數(shù)字電路中,其品質(zhì)的好壞直接影響到硬件電路的性能,因而有必要對(duì)其性能進(jìn)行測(cè)試.本文介紹了一種基于9SP和9DS技術(shù)的晶振測(cè)試卡的硬件組成,著重論述了該測(cè)試卡的PCI接口設(shè)計(jì)和軟件設(shè)計(jì),并闡述了測(cè)試卡各個(gè)功能模塊調(diào)試與系統(tǒng)聯(lián)調(diào)的過(guò)程.該測(cè)試卡以IEC 444標(biāo)準(zhǔn)為測(cè)量原理,由PCI總線接口模塊、信號(hào)發(fā)生器、信號(hào)調(diào)理模塊、增益相位檢測(cè)電路、A/D轉(zhuǎn)換模塊等部分組成,能夠有效測(cè)量1MHz~150

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