LED驅(qū)動電源性能退化參數(shù)監(jiān)測及壽命預測方法研究.pdf

1、大量統(tǒng)計數(shù)據(jù)表明,驅(qū)動電源在整個LED照明裝置中具有極高的故障率,這嚴重影響了照明裝置的可靠性。對于高壽命的產(chǎn)品來說,建立在對試驗樣品失效數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析基礎之上的傳統(tǒng)可靠性研究方法存在不容忽視的弊端,因此,本文通過對LED驅(qū)動電源性能退化參數(shù)的監(jiān)測,對其退化過程進行建模,得到其退化規(guī)律,提出基于性能退化的LED驅(qū)動電源壽命預測方法。該方法對電子系統(tǒng)的可靠性評估具有一定的理論意義與實用價值。
　　本文首先對LED驅(qū)動電源中關鍵元器件的

2、失效機理及退化模型進行了研究,著重研究電解電容、MOSFET以及功率二極管等關鍵元器件的失效機理和描述器件退化的模型。采用EDA技術通過仿真定性得到單一關鍵元器件(鋁電解電容及MOSFET)達到失效閾值時對輸出的影響。研制了LED驅(qū)動電源性能退化參數(shù)監(jiān)測及壽命預測系統(tǒng)。系統(tǒng)硬件包括信號調(diào)理電路、信號采集電路、電壓和電流互感電路、溫度測量電路及信號切換電路等幾部分,系統(tǒng)軟件采用LabVIEW與Matlab混合編程的方式實現(xiàn)系統(tǒng)實驗過程的控

3、制、研究對象的監(jiān)測、性能退化建模以及壽命預測等功能,為電源的退化實驗提供實驗平臺。采用恒定應力加速壽命試驗方法分別對LED驅(qū)動電源進行多個溫度應力水平的退化實驗,利用所研制的實驗系統(tǒng)來監(jiān)測驅(qū)動電源及關鍵元器件的性能退化參數(shù)。在小波理論的基礎上，研究SVD-小波消噪的方法,并對實驗數(shù)據(jù)進行預處理,處理結(jié)果表明SVD-小波消噪方法具有較好的消噪效果。研究了基于B-S模型的LED驅(qū)動電源的可靠性評估方法,對LED驅(qū)動電源的壽命進行了預測。將W