電控全息光開(kāi)關(guān)理論及KLTN晶體光學(xué)性能分析.pdf

1、電控全息光開(kāi)關(guān)的物理機(jī)理是電壓控制光折變效應(yīng)，即外電場(chǎng)控制存儲(chǔ)于順電態(tài)的光折變晶體中體全息圖的再現(xiàn)，速度可達(dá)納(亞)秒量級(jí)，是目前最快的光開(kāi)關(guān)之一。基于摻雜的鉭鈮酸鉀鋰(KLTN)晶體被認(rèn)為是目前用作電控全息光開(kāi)關(guān)的最佳材料，具有高的衍射效率、快的電光開(kāi)關(guān)時(shí)間。本文對(duì)電控全息光開(kāi)關(guān)基本原理，電控全息記錄介質(zhì)及其光學(xué)性能進(jìn)行了研究，所做的主要工作如下：
　　1.對(duì)電控全息物理機(jī)理進(jìn)行了研究，推導(dǎo)了有效電光系數(shù)的表達(dá)式。
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2、.分析了順電相KLTN晶體中空間電荷場(chǎng)Esc與摻雜濃度ND、光柵周期Λ、外電場(chǎng)E0w和居里溫度Tc的關(guān)系，光折變折射率變化Δn與讀出外電場(chǎng)E0r、摻雜濃度ND，居里溫度Tc的關(guān)系，以及順電相KLTN晶體中Bragg衍射效率與調(diào)制度m、晶體厚度d和讀出外電場(chǎng)E0ext的關(guān)系。
　　3.提出一種基于數(shù)字全息的KLTN晶體光學(xué)參數(shù)測(cè)量方法。該方法是利用數(shù)字全息術(shù)測(cè)量晶體的折射率和透過(guò)率，利用數(shù)字全息干涉術(shù)測(cè)量晶體的有效電光系數(shù)。