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文檔簡介
1、半導體器件體積小、壽命長,如今得到了非常廣泛的應用,它已成為現(xiàn)代電子技術的重要組成部分。利用PN結對正反向電流表現(xiàn)出的通斷特性,半導體二極管常在脈沖電路中作為開關使用。但二極管PN結中存在電容效應,若要正確地用做脈沖開關,就必須了解二極管的反向恢復時間等重要參數(shù)。本文旨在設計一種測量范圍更廣、更實用、精度更高、成本也較低的高壓二極管反向恢復時間測試系統(tǒng)。
首先,對二極管的反向恢復過程及相關應用進行了研究,指出二極管反向恢復
2、時間測試的必要性;比較了以往文獻提到過的幾種測試方案,分析了各自的優(yōu)缺點和本系統(tǒng)設計方案的實現(xiàn)目標,提出解決方案和測試注意事項,并將整個測試系統(tǒng)分為上位機和測試頭兩個部分來設計和說明。
其次,將整個測試頭硬件系統(tǒng)分為TRR測試波形獲取電路、TRR脈沖截取轉換電路、信號上傳和模塊內部電源三個部分來描述它們的設計情況,詳細介紹了每個模塊的電路及功能,討論了某些難點電路的設計,以及重要芯片和器件的選擇。
第三,將上
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