紅外斷層成像無(wú)損檢測(cè)研究.pdf

1、紅外斷層成像無(wú)損檢測(cè)具有快捷、無(wú)接觸、檢測(cè)面積大及無(wú)有害輻射等諸多優(yōu)勢(shì)，它借助于熱傳導(dǎo)模型來(lái)映射物體的內(nèi)部特征，由于大部分物體都具有導(dǎo)熱性，所以該方法廣泛應(yīng)用于無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域。
　　 為了得到材料內(nèi)部的缺陷信息，課題探討了材料的紅外斷層成像無(wú)損檢測(cè)。文中首先簡(jiǎn)述了紅外斷層成像無(wú)損檢測(cè)的研究背景和發(fā)展現(xiàn)狀，然后基于傳熱學(xué)的原理建立無(wú)損檢測(cè)的模型，通過(guò)有限元方法對(duì)材料的檢測(cè)模型進(jìn)行求解，其次，提出求解熱傳導(dǎo)模型反問(wèn)題的復(fù)合系數(shù)的共軛梯

2、度算法，映射材料內(nèi)部的缺陷信息，再次，構(gòu)造有效的硬件和軟件系統(tǒng)，增加用戶和程序之間交互性，能夠更方便地獲取無(wú)損檢測(cè)圖像和試件內(nèi)部缺陷的信息。最后使用實(shí)驗(yàn)和ANSYS仿真來(lái)獲取不同缺陷深度和不同熱導(dǎo)率材料的表面溫度分布，創(chuàng)建合理的目標(biāo)函數(shù)，借助于共軛梯度算法來(lái)優(yōu)化該目標(biāo)函數(shù)。實(shí)驗(yàn)與仿真的結(jié)果驗(yàn)證了算法的可行性，可以達(dá)到紅外斷層成像無(wú)損檢測(cè)的目的。研究表明:材料內(nèi)部缺陷深度和材料的熱導(dǎo)率是影響缺陷檢測(cè)準(zhǔn)確度的重要因素，缺陷距離表面的深度越小