Bi系HTS帶材力學性能及損傷演化與超導性能的實驗研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、該文利用光纖位移傳感技術和同步輻射成像技術,在常溫和液氮溫度下對不同包套材料、不同超導芯數(shù)的帶材進行了應力～應變～臨界電流關系的測試,和應力～應變～內(nèi)部結構的觀測,為解釋帶材的破壞機理和失超機理提供了實驗依據(jù).該文中研究方法的創(chuàng)新之處可歸結為：（1）研制了極低溫環(huán)境下的光纖位移測試系統(tǒng).（2）首次將光纖傳感技術應用于低溫環(huán)境下的超導帶材位移測量中.（3）首次將同步輻射X射線成像技術應用于帶材內(nèi)部結構損傷演化過程的觀測.（4）通過2、3的

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